第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会は、2024年3月13日（水）～ 15日（金）に 東京理科大学 野田キャンパスにて開催されました。
当講演大会にて、タカヤ株式会社 産業機器事業部 技術部長 柳田 が、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」の講演発表を行いました。
その際の発表資料を公開しましたので、下記、関連カタログのページより是非ご覧ください。
-------- 内容 --------
実装基板の、確実な実装保証を行うためには、電気試験が不可欠です。しかし、1つの検査手法だけでは十分なテストカバレッジを得られません。この課題を解決するために、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携したハイブリッド検査システムをご紹介します。それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断が可能になります。
基本情報第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開
会期
2024年3月13日（水）～15日（金） ＊終了
現地会場
東京理科大学 野田キャンパス＆オンライン併用開催
〒278-8510 千葉県野田市山崎2641
運営事務局
（一社）エレクトロニクス実装学会
〒167-0042
東京都杉並区西荻北3-12-2
TEL：03-5310-2010
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | 「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」 |
| 用途／実績例 | |
カタログ第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開
取扱企業第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会 発表資料公開
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