メトラー・トレド株式会社 半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』
- 最終更新日:2024-07-05 16:16:47.0
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『UPW UniCondセンサ』は、大手半導体メーカーとの共同開発により
堅牢な構造と高度な温度補正機能を備えた比抵抗計です。
環境温度やプロセス温度の変化による測定値の変化や
信号ノイズを防ぎ、高い温度補償比抵抗精度を実現。
半導体分野における水質の正確な把握と歩留まりの向上に貢献します。
【特長】
■±0.5%以下の測定精度を実現
■ノイズと水質変化による干渉を区別し、高い信号安定性を実現
■環境的要因による測定値の変化を防ぎ、正確な比抵抗の値を取得
■識別、校正、メンテナンスデータの保存に対応
※テスト評価の結果を確認できる「Case Study」を無料で進呈中。
カタログ、半導体分野向けの製品資料も<PDFダウンロード>よりご覧いただけます。
基本情報半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』
【仕様】
精度:1-10 MΩ-cm: ≦ ±1%補正済み @ 25℃
30-50 MΩ-cm: ≦ ±1%補正済み @ 25℃
10-30 MΩ-cm : ≦ ±0.5%補正済み @ 25℃
安定性:0.003 MΩ-cm標準偏差 (通常はリンス後)
温度センサ:Pt1000 RTD、IEC 60751、クラスA、NISTトレーサビリティ校正付き
温度精度:± 0.05℃ @ 25℃
※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。
価格帯 | お問い合わせください |
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用途/実績例 | ※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 |
カタログ半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』
取扱企業半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』
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計量器及び分析機器の輸出入並びに販売 【研究向けソリューション】 電子天びん、ピペット、ソフトウェアソリューション、OIML分銅、pH計、自動滴定装置、熱分析装置、分光光度計、熱測定装置、水分計、反応熱量計、自動反応装置、 自動合成システム、超臨界流体クロマトグラフィー装置、インライン粒子測定装置、in-situ赤外分光光度計 【産業向けソリューション】 産業用台はかり、フロアスケール、ベンチスケール、トラックスケール、個数計、ソフトウェアソリューション、OIML分銅、自動寸法測定装置 【プロセス制御ソリューション】 工業用プロセス計測システム、インライン粒子測定装置、超純水比抵抗・導電率測定器、TOC(全有機炭素)計 【校正・技術サービス】 メンテナンスコントラクト、JCSS校正サービス(分銅・はかり)、性能証明サービス(ピペット)、規制適合支援サービス(EQ-Pac・IPac)、計量セミナー、コンサルティング、その他技術サポート
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