非破壊・前処理なしで試料内部の3D断層画像を撮影！顕微鏡に匹敵する超高分解能 (1 μm) で、全自動3Dスキャンが可能です！ 『FF-OCTシステム Light-CT』はマイケルソン干渉計で構成されたFF-OCTで、非接触・非破壊・前処理なしで試料内部の断層画像を撮影できるOCT断層画像撮影システムです。生体組織検査や術中の迅速病理診断に活躍します。また、皮膚学・再生医学・発生学・植物学等の研究で細胞レベルのイメージングが行えます。 【特長】 ■ 超高分解能: 縦方向1μm、横方向1.5μm ■ 1cm2を5分以内で全自動スキャン ■ 包埋などの前処理不要 ■ 測定位置は深さを画像確認しながら設定 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい。

自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット！正確な原子間力顕微鏡をご紹介！ 『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000％向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロファイラー。 サブÅの表面粗さを極めて正確に測定し、チップ間のバラツキを最小化します。 【特長】 ■欠陥のイメージングと解析を完全自動で行うAFMソリューション ■欠陥レビューにおける生産性を最大1000％向上 ■低ノイズ原子間力プロファイラーで正確且つ高スループットなCMP計測を実現 ■非常に正確で、チップーチップ間のバラツキも最小にしたサブÅ表面粗さ計測 ■原子間力プロファイラー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

2017年ノーベル化学賞に輝いたクライオ電子顕微鏡に関する知見を体系的に解説 研究者、技術者のためのクライオ電子顕微鏡設置機関とそのサービス内容も紹介