• クラウド型電子実験ノート(ELN)『Labstep』 製品画像

    クラウド型電子実験ノート(ELN)『Labstep』

    PRもっと革新的に!科学者によって科学者のために構築されたプラットフォーム

    『Labstep』は、すべての研究関連データとメタデータをリアルタイムで 取り込む、ユーザーフレンドリーで柔軟な電子実験ノート(ELN)です。 安全でコラボレーティブな環境における構造化データの取り込みと分析を 提供し、研究開発ラボによる知的財産の創造と保護を支援。 強力なオープンAPIにより、装置、デバイス、システムとデジタル接続し、 ライブ情報を実験記録に直接取り込むことができます。 【...

    メーカー・取り扱い企業: STARLIMS Corporation 代理店 インフォコム株式会社

  • 【GMORS社】高性能PTFEコーティング技術 ※色付け可能 製品画像

    【GMORS社】高性能PTFEコーティング技術 ※色付け可能

    PR各種様々なゴム材でも静止摩擦係数を70%以上抑制!摩擦製の改善により、…

    GMORS社の「高性能PTFEコーティング技術」についてご紹介します。 当技術はドライフィルムであり、一般的な液状潤滑油を使わなくても、 シール材表面の摩擦を低減させる効果があります。 厚さ数ミクロンのコーティングが表面特性に変化を与えただけでなく、 スティックスリップ現象の防止にも役立っています。 なお、掲載カタログにて過去事例もご紹介しておりますので、 是非ダウンロードしてご覧ください。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社誠和商会

  • 試料破断器『ABK-5』 製品画像

    試料破断器『ABK-5』

    手軽に破断可能な試料破断器

    『ABK-5』は、けがき加工を施した断面観察用試料を、手軽に破断さ せる事が出来る試料破断器です。 けがき加工を施した試料をセットし、破断用ノブをゆっくり回して試 料を破断できる簡単な加工手順です。 こちらの製品は、断面SEM試料片作製システム「AMCシリーズ」の オプションとして使用されます。 【特長】 ■試料幅約5mmまで対応 ■各種半導体ウェハの破断が可能 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-7600』 製品画像

    破断装置『AMC-7600』

    ケガキ精度±15μmを実現!

    『AMC-7600』は、タングステンカーバイトのローラーを用いた、 高精度なSEM観察用断面試料を手軽に作製する為の破断装置です。 短時間で、高精度ケガキ機構+スキップケガキ機構を採用しており、 微小部位の端麗な破断面を取得することができます。 断面SEMサンプルを手軽に作製したいお客様のご要望を、当製品が可能に します。 【特長】 ■簡単操作 ■短時間 ■無研磨 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-8000』 製品画像

    破断装置『AMC-8000』

    ケガキ精度±2.5μmを実現!

    『AMC-8000』は、シリコン・GaAs等の各種半導体板、液晶基板・マ スク等のガラス材の断面観察試料片を無研磨・短時間で作製する破 断装置です。 ローラーカッターを用いたケガキ加工+専用工具による破断システムを 採用し、無研磨・完全ドライカットを実現しています。 エアー吸収は不要で、ユーティリティは100V電源のみとなります。 【特長】 ■簡易操作 ■破断システム採...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

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