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高解像度カメラを採用!欠陥検出の他、基板パターンの連続幅計測や、成形品…
『SV-Eシリーズ』は、各種電子基板、特殊シート、成形品などの 印刷・パターン品質と外観を高精度で検査する画像検査装置です。 欠陥検査や計測・精密で過検知の少ない基板用検査装置 「SV-ES1000」や大判の基板フィルムに対応したラインセンサ 移動式検査装置「SV-EC2000」などをラインアップ。 高解像度カメラを採用し、サイズが10μm(径)レベルの欠陥を 検出し、欠陥検出...
メーカー・取り扱い企業: シリウスビジョン(旧ナビタスビジョン) 株式会社 横浜技術センター
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ご要望に応じてカスタマイズ可能な"枚葉検査装置"などをご用意しておりま…
当社が取り扱う、シールラベル検査装置『SV-R/SV-Sシリーズ』をご紹介します。 「SV-Rシリーズ」は、ロール製品の印刷品質検査を目的とした画像検査装置で、 ラインセンサカメラやCISカメラを採用しており、固定/可変印字欠陥 (異物、文字欠け、はみ出し、にじみ、かすれ、ピンホールなど)を自動検出。 「SV-Sシリーズ」は、枚葉ラベル・シートを自動供給しながら、1枚1枚連続で ...
メーカー・取り扱い企業: シリウスビジョン(旧ナビタスビジョン) 株式会社 横浜技術センター
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スキャン画像同士、データとスキャン画像、データ同士の比較から、校了紙や…
『SV-Pシリーズ』は、各種印刷物の校正・刷出し検版から、枚葉製品の 連続・抜取検査に対応する印刷物検版システムです。 スキャン画像同士、データとスキャン画像、データ同士の比較から、 校了紙やカンプ紙印刷との比較も可能。 A3カラー印刷物では、検査設定から処理まで30秒~1分程度で検査完了します。 【ラインアップ】 ■大判一体型 検版システム「SV-PL7000/7050」...
メーカー・取り扱い企業: シリウスビジョン(旧ナビタスビジョン) 株式会社 横浜技術センター
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