反射用レプリカ解析システム『ASA-03RXD』

スピーディで豊富な解析項目と、簡便な操作性を実現！高精度な測定が可能

積等を自動的に計算するとともに、識別された部位を着色表示できる ■高性能デジタル画像処理により、高精度な測定が可能 ■採取したレプリカを専用マウントに固定する事により、レプリカ自体の変形、 　位置ずれが少なく、キメ・シワ等の走向に合わせたレプリカの撮影が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 日本アッシュ株式会社 本社