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最大10倍の加速度での測定を実現!LUM社の特許であるチルトシステムを…
【その他特長】 ■サンプル全体の変化を最短1秒毎に約2000点もの多点でリアルタイムに 捉えることが可能 ■3光源搭載の測定部により、屈折率も不要で、分散安定性・ 粒子径分布測定・濡れ性評価などが行える ■LUM社独自の特許であるチルトシステムを採用 ■...
メーカー・取り扱い企業: ライフィクスアナリティカル株式会社
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