• MOE抗体設計アプリケーション 製品画像

    MOE抗体設計アプリケーション

    PRコンピューターで抗体モデリング・抗体設計を行うための有用なアプリケーシ…

    近年、抗体医薬品開発を効率化するためにインシリコによる合理的な設計が益々重要となっています。 統合計算化学システム MOEは、低分子、ペプチド、抗体、核酸などの広範なスケールの分子の設計に活用でき、創薬モダリティー開発に対応した分子モデリングソフトウェアです。ホモロジーモデリング、タンパク質デザイン、バーチャルファージディスプレイ、エピトープマッピング、分子表面解析、物性推算、化学的修飾候補部位...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社モルシス

  • 紙パック飲料の漏れを非接触で検出!紙パック容器用 リーク検査機 製品画像

    紙パック飲料の漏れを非接触で検出!紙パック容器用 リーク検査機

    PR紙パックの検査で容器の凹みや傷にお困りの方必見!紙パックの非接触での検…

    「ECLIPSE」は、100%非接触検査が可能な紙パック容器用のリーク検査機です。 2024年6月より、お客様のご要望に応じて、サンプルのリークテストを実施しておりましたが、 2024年7月中旬より、日本がアジア市場において先行して「ECLIPSE」を発売する運びとなりました。 また、6月中旬にはアキュレックス主催にて、アメリカのTapTone社の技術者と アジア各国の代理店が集結し、合同技術...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アキュレックス 本社、大阪営業所

  • 小型 SWIRカメラ (CoaXPress I/F) 製品画像

    小型 SWIRカメラ (CoaXPress I/F)

    CoaXPress I/Fを採用!400nm~1700nmの検出波長帯…

    当製品は、SWIR画像を取得できるCoaXPressカメラです。 400nm~1700nmの検出波長帯で高精度な検査が可能。CoaXPress I/Fを採用し、 1つのセンサで可視+SWIR画像を取得できます。 電子基板検査、食品検査、農産物検査、薬粧・錠剤検査、識別分類、 工程品質...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • SONY SenSWIR IMX990搭載カメラ 製品画像

    SONY SenSWIR IMX990搭載カメラ

    400~1700nmの波長帯を検出し、可視+SWIR画像を取得可能です…

    400nm~1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場! カメラ1台で可視+SWIR画像を取得できます。 【SWIR帯域下での検査のメリット】 ■可視光下では同色に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • 最大2100万画素 SWIRカメラ 製品画像

    最大2100万画素 SWIRカメラ

    高画素(5M・12M・21M)SWIR帯域の撮影や各種検査用途に応用可…

    ×1レーン 有効画素数:1296×1032 レンズマウント:Cマウント 外形寸法:65×65×95mm その他特徴:外部トリガ、ROI、欠陥画素補正、シェーディング補正、ゲイン、ガンマ設定、検出波長帯:400nm~1700nm、PoCXP非対応 【SWIRカメラ 通常品】 製品名:VCC-SXCXP1SW 外形寸法:65×65×65mm その他特徴:PoCXP対応、その他機能は...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • VCC-HD3N / DCC-HD3N(ボードタイプ) 製品画像

    VCC-HD3N / DCC-HD3N(ボードタイプ)

    1/1.8型グローバルシャッター、超小型FULL HDカメラ。高画質を…

    ゴリズム"Clairvu"特長】 ■RAW現像ソフト並の高画質 高解像度·低偽色·低ノイズな色補間処理 ■高精度な色補正 色空間上の領域に応じて最適な色補正マトリクスを適用 ■自動露出制御 ISPで検出した輝度情報に基づき、アイリス、ゲイン、シャッター速度を制御 ■オートフォーカス ノイズの影響を極力排除し、低照度下やズームレンズのテレ側などのシーンにも強いオートフォーカス ■オートホワイトバラン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • VCC-120CXP1M(モノクロ)/ R(カラー) 製品画像

    VCC-120CXP1M(モノクロ)/ R(カラー)

    検査など高速・高画質で活躍!製品選定チャート付き資料進呈・無料デモ機貸…

    こんなシーンにご利用可能! ◆ 液晶・基板・半導体wafer・建築物等の外観検査 (欠陥/異物/形状) →どんな大きさの対象物でもヒトの目では検知できない微細な欠陥・異物・形状まで検出します。 ◆ 計測 →素材の歪みや疲労の計測・分析にご利用いただけます。 ◆ アーカイブ →国宝や美術品の状態を超高解像度で記録することや、 貴重資料のデジタル化にご使用いただけま...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • VCC-120CXP1M(モノクロ)/ R(カラー) 製品画像

    VCC-120CXP1M(モノクロ)/ R(カラー)

    1億2000万画素の超高解像度!モノクロ・カラーがございます

    製造現場での微細な欠陥など、肉眼では捉えることのできない箇所まで鮮明に検出することで、検査効率アップに貢献します! 【VCC-120CXP1M(モノクロ)/R(カラー)】 インターフェイス:CXP3/6×4lanes、CXP6×2lanes 有効画素数:13264(H)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

  • SWIRカメラ CoaXPress I/F採用 製品画像

    SWIRカメラ CoaXPress I/F採用

    400~1700nmの波長帯を検出し、可視+SWIR画像を取得可能です…

    400nm~1700nmの検出波長帯により、見えなかったワークの検査が可能なCoaXPressカメラが新登場! カメラ1台で可視+SWIR画像を取得できます。 【SWIR帯域下での検査のメリット】 ■可視光下では同色に...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社シーアイエス

1〜7 件 / 全 7 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 【7月8日】Certara-Ipros-Science-Ads-300x300-1 (AI).jpg

PR