【SiC・GaN対応】パワーデバイステスター（半導体テスター）

SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計…

パワーデバイステスター『N50シリーズ』『N54シリーズ』は、 ディスクリート半導体や小規模なロジックデバイスに特化した製品です。 ニーズに応じてSiC、GaNデバイスにも対応できる計測や治具開発も行います。 【ラインアップ】 ＜『N50シリーズ』（200V耐圧仕様）＞ 　■FPGAの搭載でテスター内部をフルロジックで同期でき、高速測定を実現 　■コンパクトなサイズでハンドラ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

『モジュール落下試験機』

任意の姿勢で自由落下！

いて、 衝突点を自由に設定できる試験機です。 衝突直前にクランプを開放するため任意の姿勢で衝突させることができます。 開放時の高さを調整することにより自由落下相当の高さに設定します 固定治具をスライドさせることによりパネルの突起部をさけて固定できます。 カム機構の採用により電気・エアなどの動力を必要としません。 衝突部には部品の飛散を防ぐための安全カバーを設けています。 【特...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

『マルチ光学特性評価装置』

パネルの自動入れ替え・連続計測に！

することにより、無人で連続測定・評価を行う事が出来る装置です。 パネルの脱着・パネルの測定面の移動・視野角変更等を すべて多軸ロボットで行うことで、装置のコストダウンを図りました。 また、治具クランプをスライドさせることにより、 10インチまでのパネルに対応できます。 外装カバーにより暗幕等の設備が不要です。 【特長】 ■パネル脱着の手間を省く ■多軸ロボットの採用でコ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター