技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』

PRJIS分銅の製造から市場供給までの流れをご紹介。JIS規格の概要も解説

当社は、質量計測を主軸とし、天びん・分銅の製造や校正サービスを手掛けています。 100年以上にわたって蓄積したノウハウを元に、高度な技術が求められる 機械式はかりの組立や、1μgレベルの高精度な質量調整・校正が可能です。 本資料では、分銅の信頼性を担保する「JISマーク付き分銅」について紹介。 精度等級や特性評価基準などのほか、製造・検査工程などを紹介しています。 【掲載内容(一...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社村上衡器製作所

遺伝子増幅装置『GENEMAL』食中毒菌や標的遺伝子を迅速検出！

PRコンパクトな装置で遺伝子増幅から検出まで最短30分【食品・検査分野など…

GENEMAL-ジェネマル-は、LAMP法による「等温遺伝子増幅」と「蛍光検出」を短時間で行うことができる小型の蛍光検出装置です。本装置はヒートブロックを有し、装置搭載のタッチパネルで測定条件を設定することで反応条件の最適化が可能です。また、リアルタイムに蛍光を検出することで遺伝子増幅をモニターすることができ、予め設定したパラメーターでの自動判定も可能です。 さらに、同時発売の食中毒菌検出用LA...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニッポンジーン

【資料】しるとくレポNo.65＃パワー半導体（2）

回路インダクタンスの大きさを定量的に確認する方法についてお話しします

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 当レポートでは、回路インダクタンスの大きさを定量的に確認する方法に ついてご紹介します。 パワー半導体のスイッチング評価を行う測定環境を改善するために配線を 見直すことがありますが、実は測定系の回路インダクタンスの大きさが 定量的にわからないと改善は難しいのです。 シミュレーションを行う際に、実測した回路インダクタン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.64＃パワー半導体（1）

スイッチング評価はどのような方法で行えばいいのでしょうか？図と写真を用…

します。 当社ではスイッチング評価のノウハウを持ったエンジニアがいますので、 各種パワーデバイスの評価を必要とされる場合は、是非ご相談ください。 【掲載内容】 ■IGBTモジュール　測定回路例 ■IGBTモジュール　測定環境例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.99＃SiCのMOSFETについて

MOSFETの性能はFoMといわれる性能指数で比較！メーカによって測定…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ SiC MOSFETはSiと比べても高い耐圧を持ちながら、抵抗も小さいという 特長を持っています。 この特長を活かして、高耐圧のIGBTをSiCのMOSFETに置き替える製品が 多く見られます。 今回はMOSFETについて、お話ししたいと思います。 SiCのダイオードについて知りたい方はしるとくレポNO.12をご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【資料】しるとくレポNo.102＃今見ている波形は本当に正しい？

"何を測定するのか？" "使用している機器の性能は適切であるのか？"を…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ みなさんが信号波形を観測する際、多くの場合はオシロスコープを 使用されると思います。 今日はそのオシロスコープで見ている波形は本当に正しいのか？ ということについてお話しします。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■オシロスコープ本体について ■一般的なパッシブプローブについて ■オシロスコープのGNDの接続のしかた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology