【分析事例】食品中混入成分のスクリーニング検査

食品中に農薬・薬物が混入していないかを高精度に分析します

食品への異物混入事件が度々世の中を騒がせており、平成26年1月に実施された内閣府の「消費者行政の推進に関する世論調査」で最も関心が高い消費者問題は「食品の安全性」という結果となりました。 食品の安全性を担保するためにMSTでは原因調査のための精度の高い分析を行っており、食品中に一日摂取許容量以上に農薬が混入しているか否かを判別することが可能です。除草剤グリホサートを少量添加した味噌汁を分析した結...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】繊維の変色原因調査

繊維表面の有機・無機成分の評価が可能です

TOF-SIMSは、着目の箇所を局所的に分析し、得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできるため、各工程における異物・汚れ・変色の原因究明に非常に有効な手段です。また、イメージ分析も可能なため、有機物の分子情報の可視化も可能です。 本資料では、繊維製品であるクリーンスーツの変色の解析結果をまとめます。TOF-SIMSによる定性結果から、変色部は皮脂である可...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】リチウムイオン電池の高分解能X線CT観察

非破壊で電池内部の層構造・異常箇所を確認できます

リチウムイオンポリマー電池は、モバイルバッテリーや電子機器などの身近な製品に幅広く利用されています。 本資料では、ラミネート型のリチウムイオンポリマー電池をX線CTで分析した事例を紹介します。X線CTを用いることで、20mmx40mmの電池を破壊せずに内部構造を観察し、数μmの異物や空隙の有無・位置を確認することが可能です。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...詳...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

レーザーラマン分光光度法による炭素材料評価

高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決！炭素材料の有効な評価手法を紹…

「ラマン分光法」は、炭素材料の構造を敏感に反映することから、 炭素材料の有効な評価手法となっています。 レーザー光を物質に照射した際に、物質から放出されるラマン散乱光を 利用した分析手法であり、ラマン散乱光は、その物質を構成する分子の 振動・回転に基づいて決まった振動数だけずれて現れます。 このズレの程度を用いて、分子構造解析を行います。 DLC、フラーレン、グラファイト、カー...

メーカー・取り扱い企業： イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部

湖西テストラボ合同会社　事業紹介

調査・研究から、コンサルティングまで様々な角度からビジネスをサポート

当社は、分析・測定・調査を通し確かな分析技術で地域のものづくりや、製造現場やユーザーで発生している問題や研究に、確かな分析技術でお客様に役に立てるサービスを提供しています。 そして、この分析・測定・調査を通し、地球環境の保全・向上に貢献することを目指しています。 【事業内容】 ○化学・物理に関する受託分析、試験研究並びにこれらに関連する業務 ○化学・物理分析に関するコンサルタント業務及び...

メーカー・取り扱い企業： 湖西テストラボ合同会社

異物検査の基礎を解説。無料オンラインセミナーのご案内

検査に初めて関わる方、改めて基礎知識を学びたい方、社員教育に活用された…

【異物検査セミナー】 　テーマ：異物クレームの現状と分析手法 　　日時：1. 2022年7月6日(水)　 13:30～14:30 　　　　　2. 2022年7月7日(木)　 13:30～14:30 　　　　　※いずれかご都合の良い日程でご参加ください。 開催方法：Microsoft Teams（WEBセミナー） 　　　　（※参加お申込み期限：7月5日(火）18:00） 　参加費：無料...

メーカー・取り扱い企業： ユーロフィンQKEN株式会社

【分析事例】TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析

サブμmオーダーの異物、微小領域の定性・イメージ分析が可能

TOF-SIMSは、着目箇所を局所的に分析して得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時に可能なことから、異物や微小領域の評価に有効です。 本資料は、サブμmオーダーの微小領域の分析例をまとめます。 層構造の試料上にFIBでスパッタ加工を行ったサンプルを、TOF-SIMSで測定をしました。サブμmオーダーの微小領域を評価をすることが出来ています。...詳しいデー...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価

SEM観察を行いながら検出深さの浅い元素分析が可能

金属表面の変色や異物の簡便的な調査にはSEM-EDX分析やAES分析が適していますが、変色や異物が薄い・小さい場合は、表面のごく浅い領域（4～5nm程度）の情報が得られるAES分析が有効です。 MST保有のAES装置はSEM像を取得できるため、SEM像で着目箇所の確認をしながらAES分析を行うことが可能です。本事例では、Cu表面に存在する変色部をAES分析とSEM-EDX分析で評価し、比較したデ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST