表面パーティクル検出器『QIII SM / ST / SX』

試料表面のパーティクルを簡単・迅速に測定可能！

『Pentagon Technologies社製 QIII』は、わずか数秒で試料表面のパーティクルを検出/測定可能な装置です。 試料表面上のパーティクルを簡単・迅速に測定でき、クリーニングの手順と基準を定量的に 規定できるため、作業者の勘と経験に頼ること無く粒子管理のバラつきを抑えます。 精密洗浄パーツの出荷前・受入時の品質確認や各種製造装置のクリーン 維持管理に適しています。 また、「QI...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エムアイティ