【応用事例】表面とサンプルのアブレーション

元素/同位体分析を改善！高い信号対雑音比でより良いデータを取得します

当社の製品では、USPレーザで表面をテクスチャリングするか、分析方法に ナノ秒またはウルトラファーストレーザを使用します(例: LIBS、LA-ICP-MS)。 強靭で繊細な材料の表面はすべて、熱損傷なしにウルトラファーストレーザビーム またはUVエキシマレーザでパターン化可能。 193nmのエキシマレーザは、粒子サイズが小さく、信号強度が高く、固有の分別が 低くなっています。 ...

メーカー・取り扱い企業： コヒレント・ジャパン株式会社 本社、大阪支店、厚木TEC