LSIパッケージ設計／評価解析受託サービス

半導体チップを外部環境から「守る」、電気信号を基板へ「伝える」！

【対応可能な評価解析項目】 ■時間領域反射率測定 ■寸法測定 ■加熱表面形状測定 ■超音波深傷観察 ■走査型電子顕微鏡観察 ■エネルギー分散型X線分析 ■X線観察 ■断面観察 ■プルシェア強度測定 ■信頼性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology