JEM-ARM200F NEOARM 原子分解能分析電子顕微鏡

当社の新しいコンセプトカラーであるピュアホワイトとJEOLシルバーを採…

日本電子株式会社 "NEOARM"は、当社独自の技術で開発された冷陰極電界放出形電子銃（Cold-FEG）と高次の収差まで補正可能な新型球面収差補正装置（ASCOR）を標準搭載し、200 kVの高加速電圧だけでなく30 kVの低加速電圧においても原子分解能での観察を実現しました。 また、当社独自の収差補正アルゴリズムを開発し高速かつ正確な収差補正を自動的に行うシステムを搭載しました。これにより、ハ...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

電磁気分析装置

物質の電磁波吸収、または放射現象など、物質と電磁波との相互作用により物…

協立電機では、以下の電磁気分析装置を取り扱っております。 取り扱いメーカーにつきましては、カタログをご覧ください。 ● 蛍光X線分析装置 ● X線CT ● 核磁気共鳴装置 ● 走査電子顕微鏡

メーカー・取り扱い企業： 協立電機株式会社

【半導体分野へご提案】表面検査装置・レジスト・精密位置制御

弊社が得意とする【半導体分野向けソリューション】をお客様に合わせてご提…

【表面検査】 ◆原子間力走査型電子顕微鏡（AFM&SEM in situ測定） by Quantum Design North America ◇原子間力顕微鏡（AFM） by Nanosurf ◆散乱型近接場光赤外顕微鏡（Nano...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の結晶性を評価し、物質の同定を行うことが可能 ・ＦＩＢで試料作製することにより、デバイス内の指定箇所をピンポイントで観察することが可能 ・オプション機能を組み合わせること...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（Secondary Electron;SE）像、反射電子（BackScattered Electron;BSE）像、透過電子（Transmitted Electron;TE）像の観察が可能 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

Arイオンミリング加工

機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ5…

Arイオンミリング法とは、機械研磨を行った後、低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

断層画像撮影システム【SD-OCT】

生体組織の観察や工業材料評価などに適した高解像度OCTシステム

OCTシリーズの中間的性能を持つSD-OCT、低価格でコンパクト、フルシステムから組み込み型のサブシステム、ユーザー独自の設計でＯＥＭ供給も可能です。 卓上に設置可能な顕微鏡モデル、計測位置が自由なハンディプローブモデルがあり目的に合わせて選択できます。 既設の顕微鏡へのadd onのご相談も受付ます。 【特長】 ■ 目視確認が困難な異物、キズなど、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング

ウルトラミクロトーム加工

ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過…

ウルトラミクロトーム加工とは、ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です。イオンビームを用いた加工と異なり、大気中にて広範囲の切片を作製することができます。 室温では切削が困難な生体材料や柔らかい高分子材料も、凍結固定することで超薄切...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

WDS MagnaRay 分光器

データをEDSの結果と組み合わせることで、真の統合されたEDS／WDS…

『WDS MagnaRay 分光器』は、電子顕微鏡での元素分析、 自動インテリジェントアライメント、およびパラメーター設定を 高い速度と信頼性で実現できます。 EDSシステムのように簡単に実施できる高分解能微量分析。 内蔵されたエ...

メーカー・取り扱い企業： サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.

電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)

常走査電子顕微鏡 (SEM) で用いるエネルギー分散型検出器 (EDS…

日本電子株式会社 JXA-iSP100 電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)、表面の組織及び形態の観察と局所微量元素分析が可能です。観察から分析までの操作をより効率的に行う、さらなる進化を遂げたインテグレーションEPMAです。 軟X線分光器をご提案できる世界唯一のメーカーです。 〇特長 ・オートローディングでホルダーを確実に装填！観察したい場所をすばやく発見！ ・面倒な設定もすべてお任...

メーカー・取り扱い企業： アズサイエンス株式会社 松本本社

高分解能フーリエ変換赤外分光装置 nano-FTIR

赤外イメージング、分光測定が可能　10nmの空間分解能を実現します

タ駆動：最大移動幅　X＝60mm、Y=15mm、Z=6mm （AFMヘッド側　X=30mm、Y=3mm、Z=4mm） ○ノイズレベル：＜0.2nm　RMS（1.5 - 150Hz） ○光学顕微鏡 ・水平分解能0.8μｍ、視野角0.7mm ・長作動距離対物レンズ（WD＝20mm） ○CCDカメラ：5Mpix　ハイスピード・デジタルイメージング ○励起波長 ・可視、赤外および...

メーカー・取り扱い企業： 日本カンタム・デザイン株式会社

LL Tech社製【FF-OCTシステム Light-CT】

非破壊・前処理なしで試料内部の3D断層画像を撮影！顕微鏡に匹敵する超高…

『FF-OCTシステム Light-CT』はマイケルソン干渉計で構成されたFF-OCTで、非接触・非破壊・前処理なしで試料内部の断層画像を撮影できるOCT断層画像撮影システムです。生体組織検査や術中の迅速病理診断に活躍します。また、皮膚学・再生医学・発生学・植物学等の研究で細胞レベルのイメージングが行えます。 【特長】 ■ 超高分解能: 縦方向1μm、横方向1.5μm ■ 1cm2を5分...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング

Apollo Medical Optics社製【FF-OCT】

生体の皮下組織や試料内部の断層画像を撮像

『FF-OCTシステム ApolloVueS100』はMirau Interferometer光学系で構成されており、in-vivoでの計測が可能なFF-OCTです。顕微鏡に匹敵する超高分解能 (1μm)で全自動3Dスキャンが可能です。 【特長】 ■ 超高分解能:：縦方向1μm、横方向1.3μm ■ B-scan走査：0.5 fps、C-scan走査：6 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムズエンジニアリング