• カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』 製品画像

    カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』

    PR肉眼では見つけづらい同色の異物もピンポイントで検出・除去。機器選定のフ…

    『UDW-Fseries』は、カット野菜を特殊赤外線カメラにより上下両面から検査し、 検出した異物をイジェクターでピンポイントに除去する装置です。 肉眼では見つけづらい同色の異物が混入している場合にも、高精度に検出・除去可能。 変色した葉の検出もできる、色彩検出機能が付いたタイプもラインアップしています。 ★他にも、様々な検出方式に対応した食品用異物除去装置を提供しています。  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社服部製作所

  • キムテック ポラリスニトリル グローブ ※箱単位でサンプル進呈 製品画像

    キムテック ポラリスニトリル グローブ ※箱単位でサンプル進呈

    PRキムテック史上最高レベルの保護性能と耐久性、人間工学に基づいた快適さを…

    キムテック独自の高品質なニトリルを配合し、非常に柔らかく耐久性に優れています。 人間工学認証も取得し、長時間の作業でも疲労を軽減し、快適にご使用頂けます。 また、幅広い化学物質ならびに抗がん剤で耐性を試験済で安心して安全にご使用頂けます。 改正された労働安全衛生法(関係政省令)*に対応しております。 耐透過性評価試験のデータがございますので、必要に応じてお問合せください。 *『2...

    • PP.jpg
    • P3.jpg
    • Polaris_Xtra_Box_Open_L.jpg
    • Polaris_Xtra_fingertips.jpg

    メーカー・取り扱い企業: キムテック(Kimtech)・ビジネスユニット 旧キンバリークラーク・サイエンティフィックPPE事業部

  • 表面解析サービス 製品画像

    表面解析サービス

    表面解析サービス

    向:1nm、観察視野:104倍  ・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり    極表面の分析および薄膜の分析に最適 ○XPS分析装置  ・分析領域:深さ方向:数nm、観察視野:5mmφ  ・深さ方向の分解能がnmオーダーレベルであり    観察視野は、AESより広いが、元素の結合状態の分析より    化学式の推定が可能 ○EPMA分析装置  ・分析領域:深さ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

  • 制御・監視ソリューション 「監視用デジタルレコーダ」 製品画像

    制御・監視ソリューション 「監視用デジタルレコーダ」

    監視カメラ最大16台、最高30fpsで同時に録画・再生が可能です。

    「監視用デジタルレコーダ」は、監視カメラ最大16台、最高30fpsで同時に録画・再生、一瞬も逃さず鮮明に記録します。 H.264による高画質圧縮、スポットモニタ出力により別モニタで監視が可能です。 イベント等によるE-mail通知も行なうことができます。 FineREC XR16は、スマートフォン(iPhone, BlackBerry)からの遠隔監視も可能です。 【特徴】 [Fine...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

  • 【非破壊検査用】高エネルギーX線発生装置 製品画像

    【非破壊検査用】高エネルギーX線発生装置

    高品質で安定稼働する直線加速器を利用した高エネルギーX線発生装置です!

    非破壊検査用のX線源として、高品質で安定稼働する直線加速器を利用した高エネルギーX線発生装置をご紹介します。 照射エネルギーは0.95~9MeVと各種取り揃えており、用途に応じたエネルギーをお選びいただけます。 また、一つの装置で2つのエネルギーを照射できるデュアルエネルギータイプも用意しております。 -------------------------------------------...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社IHI検査計測

1〜3 件 / 全 3 件
表示件数
60件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • Final_300_21-CAN-51700 SignalStar MVP 3rd Party Banners_Ad1 A New Star-300x300_v2-JP.jpg
  • banner_202410_jp.jpg

PR