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表面とナノ構造を測定する機能!ミリメートルから原子レベルまでをカバーし…
走査電子顕微鏡(SEM)と原子間力顕微鏡(AFM)の複合システムをご紹介します。 SEMのズーム機能を使い、AFMチップを対象領域に直接移動可能。 表面の形状や、機械・電気・磁気特性に関する情報をナノメートル分...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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