分析講座【表面分析（XPS、TOF-SIMS）】ライブ、特典付　

本講座は、表面分析手法であるXPS (ESCA）とTOF-SIMSの原…

を充実させ、個別の質疑応答にも対応しております。 本講座では、表面の組成や化学構造、官能基の分析手法である、[1]X線光電子分光法（XPS / ESCA）、[2]飛行時間型２次イオン質量分析法（TOF-SIMS）について、原理と特徴、応用事例を紹介します。 [1] XPS / ESCA：材料表面中に存在する水素, ヘリウムを除くすべての元素の組成と化学結合状態を評価する手法。エッチングを併用...

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出張講座～分析技術セミナーを出張開催致します～

新入社員研修や技術者向け社内研修など、ご要望に応じて講師を派遣させてい…

定します。 【講座内容例】 赤外分光法（IR） ラマン分光法 X線回折・散乱 核磁気共鳴分光法（NMR） X線光電子分光法（XPS/ESCA） 二次イオン質量分析法（D-SIMS 、TOF-SIMS） ラザフォード後方散乱分光法（RBS） 電子顕微鏡（TEM、SEM） 原子間力顕微鏡（AFM） 力学特性解析 ナノインデンテーション 高分子レオロジー クロマトグラフィー...

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