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~10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置
『高出力レーザ用FFP計測装置』は、~10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布(ファーフィールドパターン)を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布(FFP:ファーフィールドパターン)をリアルタイムで取得・測定可能で...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…
『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯(光パワー調芯)を併用、 超微細導波...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用!広い放射角をカバーでき…
『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type Sの 対物レンズレボルバにも装着が可能です。 また、プローバへの搭載・組合せによって、 VCSEL等のウエハレベルIVL測定にも使用できます。 【特...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!
『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系(簡易型NFP計測光学系も使用可能) を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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~10Wクラス高出力レーザ用高機能型光ビームプロファイル計測・NFP計…
『高出力レーザ用高機能NFP計測装置』は、~10Wクラス高出力レーザのNFP計測に 対応した光ビーム形状計測装置です。 光学系は、当社製ハイパワーレーザ用高機能NFP計測光学系M-Scope type HS、 高パワー耐性型対物レンズの装着による近視野像(NFP)の計測が可能。 また、対物レンズを介さない状態で計測することで、狭角角度範囲での 放射角度分布(FFP)計測も可能です...
メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社
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