• 【材料・不良解析】X線マイクロフォーカス検査:X線CT撮影  製品画像

    【材料・不良解析】X線マイクロフォーカス検査:X線CT撮影

    ピクセル分解能は7~120µm程度!アルミダイカスト製品、はんだ内のボ…

    当社では、『X線マイクロフォーカス検査:X線CT撮影』を行っております。 試料にX線を照射し、試料台上で360度回転させ撮影を行います。非破壊で、 試料の内部構造や欠陥の確認など幅広い製品を3次元で観察することが可能。 X線の透過しやすさにより、構成元素(密度)にコントラストがつきます。 また、密度の大きい元素は、明るく、小さい元素は暗く映ります。 【特長】 ■対象試料サ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ミツバ環境ソリューション

  • 産業用CTによる非破壊検査・三次元測定サービス 製品画像

    産業用CTによる非破壊検査・三次元測定サービス

    360°全方向からの被写体X線透過像を取得可能! 製品内部の品質検査…

    当社ではCTスキャナによる「投影データからの画像再構成」をはじめ、「対象物の三次元形状の全取得」や「高精度な形状測定」、「高速検査・測定」が可能です。 また、ナノフォーカス、マイクロフォーカス、ミリフォーカス、高エネルギーX線と大きさや材質ごとに最適化された4つ全ての領域に対応可能となっており、産業用CTでできることを網羅したサービス体制を敷いています。 【特長】 ■高精度・高出力 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社JMC

  • SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価 製品画像

    SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価

    ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察

    他社品調査や異常品検査では、まず内部構造の調査が必要です。X線CTでは、非破壊で試料内部の透過像を取得し、三次元構築することが可能です。本資料では、製品調査の一環としてSiCチップが搭載されたディスクリートパッケージをX線CTで観察した事例をご紹介します。 X線CTによる構造確認後、MSTで実施している物理分析(破壊分析)をご提案します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 日本水処理工業株式会社 劣化診断 製品画像

    日本水処理工業株式会社 劣化診断

    人と同じように、設備にも"健康診断"が必要です。各種専門の技術スタッフ…

    設備の劣化・老朽化は、私たちの目に見えない所で確実に進行しています。 だからこそ人間と同様に定期的な健康診断が必要となります。 当社は"設備のドクター"として、各種専門の技術スタッフが、 様々な診断機器を手に診断します。 配管の延命、更新時期の決定、漏水原因の調査、詰まりの解消方法など、 様々な対策という"薬"を処方し、設備管理の適切な運営をサポートします。 【特長】 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 日本水処理工業株式会社 本社

  • 分析サービス『異物混入検査』 製品画像

    分析サービス『異物混入検査』

    かび・ガラス片・金属タワシなど、迅速かつ適切な調査・報告を行います

    当社では、新しい分析機器を駆使して分析・解析を行っております。 異物調査に関しこれまでに蓄積されたデータと経験から、 お客様に迅速かつ的確なご報告・アドバイスが可能。 食品などへの異物混入のクレームでお困りの方など お気軽にご相談ください。 【サービス内容】 ■外観・形状観察 ■無機成分分析 ■有機成分分析 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社分析センター 第一技術研究所

  • 理化学分析 製品画像

    理化学分析

    異物、成分、構造解析などに関する理化学の分析を行います

    各種製品の工程検査、不純物分析、クレームの原因調査等に、 当社の長年にわたって蓄積した経験が活かされています。 元素、組成分析をはじめ、化合物の構造解析と同定や、熱分析など、 特に形態観察・表面分析を行う異物分析は多くの実績がございます。 【特長】 ■元素、組成分析 ■化合物の構造解析と同定 ■異物分析(形態観察、表面分析) ■熱分析 ■気体透過率測定 ■一般物性測定 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クレハ分析センター

  • 【分析事例】トランジスタ内部の状態評価 製品画像

    【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

    デバイス内部の異常を非破壊で評価します

    外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。 X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。 その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱などの影響で断線したワイヤーの周囲のモールド樹脂が変性していることも分かりました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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