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    LNPの製剤開発からGMP製造までをサポートする多彩なツール

    PR製剤条件のスクリーニングからスケールアップ、GMP製造までをシームレス…

    弊社のLNPツールは、合成から特性解析までにかかる様々な手間と時間を軽減し、製剤化を加速化します。 【LNP合成】 ・Sunシリーズ:処方・製造条件スクリーニングからスケールアップ、GMP対応製造まで、同じポンプとマイクロ流路チップを使用してシームレスに実行・移行可能です。  ・Sunscreen:スクリーニングのために開発された装置。96種類の条件検討を完全自動で実行。  ・Sunshine:...

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    メーカー・取り扱い企業: Unchained Labs株式会社

  • 微量用デジタルディスペンサー【デモ受付中】 製品画像

    微量用デジタルディスペンサー【デモ受付中】

    PR精度と効率が必要なアッセイ作業にお困りですか?11 pL~10 μLを…

    Thermo Scientific Multidrop Pico 1 and Pico 8 Digital Dispenser は、専用の分注ヘッドカセットで分注する非接触分注方式のため、サンプルの取り違えやコンタミリスクもありません。 【特長】 ・試薬やサンプルのデッドボリュームを最大で10倍削減 ・手作業の希釈では10 分かかる作業を15秒で実現 ・qPCR ワークフローのスピード...

    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 【分析事例】Siウエハベベル部の汚染評価 製品画像

    【分析事例】Siウエハベベル部の汚染評価

    金属成分と有機成分を同時に評価可能です

    半導体デバイス製造において、歩留まり向上の観点から、ウエハの裏面の清浄度向上に加え、ウエハのベベル部に残留する物質を除去することが求められています。今回、ベベル傾斜面のTOF-SIMS分析を行い、汚染の分布を評価しました(図2)。また、付着物と正常部・汚染源のマススペクトルを比較し、付着物は汚染源の金属(Cr)成分・有機物成分と一致していることがわかりました。 TOF-SIMSにてベベル部(端面...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価 製品画像

    【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価

    波形解析・Arスパッタによる結合状態の深さ方向分布評価

    XPSでは酸化成分(酸素と結合している成分)・金属成分(金属と結合している成分)などの結合状態の評価が可能です。また、アルゴンイオンスパッタリングを併用することにより、深さ方向の結合状態の評価も可能です。 ※ ステンレス表面の不動態皮膜(厚さ数十nm~数百nm程度)について、上記測定を行った結果、(1)表面側にFe酸化成分が多い、(2)Cr酸化成分がFe酸化層の下側に存在、(3)Ni酸化成分はほ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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