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PR入荷品のテスト、プロセス中間体のモニタリング、最終製品配合のスクリーニ…
新しいNMR ベースの『Avance Chemical Profiling』モジュールは、 分光学の専門家とのやり取りを必要とせず、サンプルから実用的な 情報インテリジェンスまで、包括的なソフトウェアベースの自動化された エンド・ツー・エンドのワークフローです。 データ取得、処理、解釈、レポート作成などのタスクに対応。 純粋な形状または混合物中の物質の同定と定量を自動的に可能にし...
メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 バイオスピン事業部
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材料から微生物まで！種レベルまで同定できる強力な技術として誕生
当資料では、MALDI-TOF MSの誕生から、MALDIバイオタイパー開発とその用途の拡大などについて解説しております。 MALDI-TOF MSの歴史、商用MALDI-TOF MSシステムの製造において ブルカー社における科学者達の初期の役割、そしてこの技術の 普及が及ぼした影響について振り返ります。 是非、ご一読ください。 【掲載内容(一部)】 ■はじめに ■MAL...
メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 ダルトニクス事業部 微生物同定・菌株識別
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高分解能「Agilent 6546 LC/Q-TOF」を用いたニトロソ…
アンジオテンシン II 受容体拮抗薬（ARB）は、高血圧および心不全の 治療に広く用いられています。 近年、一部のARBに発がん性のニトロソアミン不純物が含まれていることが わかり、結果的に多くの製品がリコールされました。そのため、問題のある ニトロソアミン不純物を検出できる分析メソッドが求められています。 当アプリケーションノートでは、USFDAが指定する6種類のニトロソアミン...
メーカー・取り扱い企業： アジレント・テクノロジー株式会社
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高度な分析と”考察力”でお客様の問題解決！電子基板の解析事例をご紹介
「電子基板・部品の解析」は、お客様の”知りたいレベル”に応じて 表面分析手法をご提案します。 FT-IR(反射法・ATR法)をはじめ、XPS表面分析や、AES深さ分析など 電子基板配線パターンの銅表面を様々な手法で分析することで問題を 解決しました。 【電子基板の解析事例（配線パターン）】 ■FT-IR(反射法・ATR法) ■XPS表面分析 ■AES深さ分析 ■TOF-S...
メーカー・取り扱い企業： イビデンエンジニアリング株式会社 環境技術事業部
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プローブに原子を採用した表面分析装置（CAICISSの発展版）
結晶方位・極製は15分で一目瞭然！帯電の影響がなく安定した表面分析が可…
『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社パスカル
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微生物検査では、迅速さと精度がカギを握る
■ 1検体あたり低コスト 数十円程度 ■ 一般細菌（グラム陰性/陽性菌）4274種。オリジナルライブラリを拡張・共有可能 ■ セルスメア法で1検体を1分、96検体を40分程度で同定 （※標準的な 場合です） ■ サンプル:一般細菌（グラム陰性/陽性菌）、酵母、カビなど ■ 糸状菌、抗酸菌のプロトコルを確立 ■ AOACのOMA（公認法）認証済 ■ オーディット対応のソフトウ...
メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 ダルトニクス事業部 微生物同定・菌株識別
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結晶方位・極製は15分で一目瞭然！帯電の影響がなく安定した表面分析が可…
『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社パスカル
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