水分活性測定装置『LabMaster-aw neo』

PR温度制御機能搭載のフラッグシップモデル！業界最高クラスの精度と安定した…

『LabMaster-aw neo』は、食品業界で愛用されている水分活性測定装置です。 食品・医薬品の水分活性値を高精度で測定(±0.003aw)する事ができます。 ペルチェ素子精度により温度の安定が早く､0℃から60℃まで温度設定可能。 また、タッチパネルで簡単操作が可能な「LabTouch-aw」や持ち運びも 楽な小型モデルの「LabSwift-aw」や必要最低限な機能を備えた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社スギヤマゲン

適切な磁選機等の選定や設備の改善提案

PR高機能素材を製造のお客様向け！異物問題を科学的に解決

当社では、適切な磁選機等の選定や設備の改善提案を行っております。 扱うものや用途や環境が変われば好適な異物除去方法は変わります。 特に高いレベルでの異物除去を求められる「高機能素材」では、一筋縄ではいきません。 マグネテックジャパンは、「自動化や高効率化は不可能だと思っている」 「高いクオリティの製品を作るために、より微細な異物除去方法を模索している」 などの異物問題を科学的に解...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マグネテックジャパン 本社

レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置

レビュー用顕微鏡搭載！検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査（約181秒/12inch） ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用し...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クボタ計装

ウェハ表面欠陥検査装置（画像式）

透明素材にも対応する高精度検査装置

微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で 透明体材料にも適用しております。 全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の 顕微鏡観察が可能な装置です。 ■装置の特長 ・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能 ・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能 ・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に 　観察、欠陥アルバムの作成が可能。 ・結晶欠陥の検出機能を開発中...【検出】 方　　　式：　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クボタ計装

ウェハ外観検査装置（画像式）

ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

■以下のご要望・お困りごとにお応えする装置です！ ・ウェハ（基板）の欠陥目視検査を自動化したい。 ・検査員ごとの合否判定ばらつき低減、防止したい。 ・検査データの保存、品質のトレースを行いたい。 ・自動で欠陥弁別したい。 ■装置の特長 ・目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別できます。 ・欠陥種類に合わせて最適化した光学系の提案が可能です。 ・手動機/自動搬送(カセットtoカセット）とも提案可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クボタ計装