• カメラマイクロスコープユニット『MS-200-TCD33』 製品画像

    カメラマイクロスコープユニット『MS-200-TCD33』

    イメージサークルφ33mm対応!専用対物レンズ「M.PlanAPO H…

    『MS-200-TCD33』は、12メガピクセルエリアカメラ(5.5μm、4096×3072) 「CMV1200」や、25メガピクセルエリアカメラ(4.5μm、5120×5120) 「Python25K」などに対応した、無限遠(f=200mm)のFマウ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

  • 半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』 製品画像

    半導体内部観察顕微鏡『NIR2021-200』

    1.3メガSWIRカメラ搭載!チップ内部のメタル配線、ダイボンディング…

    光の透過・反射特性を利用してシリコンウェハや チップ、MEMS、CSPなど半導体デバイス内部を観察できる顕微鏡です。 1ピクセル5μm、1.3MPのSONY製IMX990を搭載したSWIRカメラを搭載し、 近赤外画像でありながら、高解像画像の取得が可能。 SWIRカメラで感度の高い近赤外1100-1700nm域専用に独自設計した結像鏡筒と PEIR対物レンズシリーズにより、厚ウ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

  • 半導体カセット寸法検査装置『FSMシリーズ』 製品画像

    半導体カセット寸法検査装置『FSMシリーズ』

    半導体周辺機器検査の新スタンダードを目指して!広視野撮像によってタクト…

    『FSMシリーズ』は、FOUP/FOSB/OCの外径寸法測定を行う装置です。 2500万画素カメラ+専用光学エンジンにより、超高画質での外径寸法が可能。 様々な角度から、トップフランジ、サイドフォークリフトフランジ、 ウェハ搭載の段ピッチやレジストレーションピンホールを測定・検査します...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社清和光学製作所

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