アブソデックス(ABSODEX) AX1R/2R/4R・AXD

PR軸受けやブラケット等を別途設置する必要なく負荷をダイレクトに取り付ける…

簡単にインデックステーブルの装置を作ることができるので、 設計工数と組立工数を削減し、生産設備のシンプル化と生産効率UPに貢献します。 【生産設備のシンプル化】 複数の部品を組み合わせて構成したインデックステーブルの機構をアブソデックス1つで置換え可能。 部品点数・設計工数の削減や、省スペース・センサレス・メンテナンスフリーなど、生産設備のシンプル化に貢献。 【フレキシブル動作】...

メーカー・取り扱い企業： ＣＫＤ株式会社

IVL測定モジュール『PMD002/IVL』

18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用！広い放射角をカバーでき…

『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type Sの 対物レンズレボルバにも装着が可能です。 また、プローバへの搭載・組合せによって、 VCSEL等...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光計測・検査装置『ウエハレベル光素子特性測定装置』

電気・光学特性測定をウエハレベルで解析するシステム

『ウエハレベル光素子特性測定装置』は、VCSELやLEDなどの発光素子、 フォトダイオードや照度センサなどの受光素子の電気・光学特性測定をウエハ レベルで解析するシステムです。 当製品は、セミオートプローバやマニュアルプローバ等の半導体故障解析用 プローバシステムと、当社の各種光計測用光...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

偏光測定モジュール『PMD002/POL』

空間光測定対応！各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定…

式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状態を測定できます。 また、偏光測定センサヘッドは、単体での使用の他、プローバへの 搭載・組合せによって、VCSEL等のウエハレベル偏光測定にも使用できます。 【特長】 ■高速かつ高い分解能・再現精度で偏光消光比測定が可能 ■...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社