• ラボ用天びん「Quintix Pro」 製品画像

    ラボ用天びん「Quintix Pro」

    PR15ヶ国語から選べる拡張言語サポートで容易な操作と正確なレベリングを実…

    ラボ用天びん「Quintix Pro」は 使いやすさ、柔軟性を向上させ、環境に配慮した設計を取り入れたプレミアムな機能を搭載しています。 幅広い作業に対応できる多用途の天びんをお探しのラボに適しています。 新興企業や限られた資金で運営されている研究室など、予算重視の研究室にとっては、費用対効果の高いソリューションです。 基本的な計量ニーズしかないラボでも、 「Quintix Pro」は高級天び...

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    メーカー・取り扱い企業: ザルトリウス・ジャパン株式会社

  • Luminex xMAP INTELLIFLEX System 製品画像

    Luminex xMAP INTELLIFLEX System

    PR【キャンペーン実施中】迅速でコストパフォーマンスに優れたイムノアッセイ…

    Luminex xMAP INTELLIFLEX Systemは、コンパクトで広いダイナミックレンジを実現します。タッチスクリーンのユーザーインターフェースを備え、スタートアップ、シャットダウン、メンテナンスが自動化されているため使いやすく、メンテナンスも簡単。この他、2つのパラメーターで測定可能なDR-SEモデルをはじめ、Luminex 200 Instrument System、Luminex...

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    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 周波数安定化HeNeレーザ  製品画像

    周波数安定化HeNeレーザ

    1nmの超高分解能での計測に安定した精度を発揮!

    光ヘテロダイン変位計の光源です。 高分解能、高精度を求める必需品で、光計測には欠かせない光源です。 高精度計測には「物差し」の安定性が望まれます。 HeNeレーザは周波数が安定したガスレーザとして基準レーザとなっています。 しかし、フリーランニング状態(単にレーザを電源に接続して点灯させただけの状態、市販の発光状態)でも周波数安定性はf/f〜10 と高い...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 光ヘテロダイン変位計 HV400 製品画像

    光ヘテロダイン変位計 HV400

    極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測!過渡応答現象測定に…

    光ヘテロダイン変位計 HV400 【特徴】 ○1nmの分解能  0.001ミクロンが縦分解能  計測の基準は周波数安定化HeNeレーザの波長 ○最短1μsごとに過渡現象を記録  短時間に変動する事象を計測・記録・表示  PCのLCD画面上で変動の様子が一目瞭然 ○最大100万点を記録、データ処理  記録時間を大幅...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 周波数シフタ FS1S 製品画像

    周波数シフタ FS1S

    周波数シフタ FS1S

    を僅かにシフトさせ、2つの周波数差を安定に抑える ヘテロダイン計測に最適な周波数シフタ 【構成】 2台のAOM(音響光学変調器)とそのドライバから構成されます 光周波数(f0;HeNeレーザの場合474THz)の入射光を 2本に分岐し、各々光周波数を、f0+f1(約80MHz),f0+f2、にシフトします シフト量はほんの僅か(f1/f0〜0.0000002)ですが、この僅かなシ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 測定の問題に関する技術Q&A 製品画像

    測定の問題に関する技術Q&A

    【技術資料進呈中】測定の問題に関する疑問をQ&A形式で掲載!

    測定の利点欠点は?」や 「光ヘテロダイン計測とは?」など、測定の疑問にお答えしています。 【掲載内容】 ■光測定とは何? ■光測定の利点欠点は? ■光ヘテロダイン計測とは? ■なぜレーザを使うのか?レーザの優位性は? ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

  • 顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計 製品画像

    顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計

    極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測!過渡応答現象測定に…

    光ヘテロダイン変位計の1プローブ1出射型のプローブを 顕微鏡鏡筒上部に設置し、顕微鏡による観察と同時に変位量を測定する 顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計 【特徴】 ○被測定物の測定点をピンポイント ○被測定物状態観察と並行計測可能 ○落射照明系、CCDカメラを取りつけ通常の顕微鏡として  被測定物を視認すると共にCCDカメラを用い  ディスプレイ(CRT)上で被測定面状態を...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フォトンプローブ

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