『金属検知対応　結束バンド選択ガイド』

PR抗菌・防カビタイプと、ポリプロピレン製の結束バンドの違いが一目でわかる…

『金属検知対応　結束バンド選択ガイド』は、 金属検知に対応した結束バンドの選定に役立つ資料です。 「抗菌・防カビタイプ」「ポリプロピレン製」の結束バンドにおける 湿度、温度、X線での検出し易さ、耐衝撃性などの違いが一目でわかります。 【掲載製品の特長】 ＜抗菌・防カビタイプ　結束バンド＞ 　■食品衛生法に適合 　■材質：金属入りナイロン6.6 　■使用温度範囲：-40～85...

メーカー・取り扱い企業： パンドウイットコーポレーション日本支社

協働ロボット パレタイジングシステム

PRカゴ台車への荷積みにも対応！お客様の用途に合わせ、多種多様にカスタマイ…

『協働ロボット パレタイジングシステム』は、省スペース・安全柵不要で運用可能な製品です。 ティーチングペンダント付属で操作も簡単。 また、パレット積みだけでなく、カゴ台車への荷積みにも対応しています。 その他、前後のコンベアー設置など現場環境に合わせご提案を致します。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■８パターンのパレタイジング標準パッケージ ■省スペースに設置可能 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社山善

超高感度DLTS　バルク内欠陥・界面準位測定装置

不良及び結晶欠陥の解析に有効！幅広いクライオスタット用のインターフェイ…

『DLS-83D/1000』は、温度、周波数スキャン、C-V特性等の測定が可能な バルク内欠陥・界面準位測定装置です。 「DLS-1000」は、10^8cm3レベルのバルク内欠陥、界面準位の高感度な 測定に対応。ライブラリーを標準装備しておりますので解析が容易に行えます。 高感度アナログ／デジタル（測定はアナログ、データ処理はデジタル） ロックイン平均法を採用したユニークなシステ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

非接触移動度測定装置『LEI-1610シリーズ』

様々な半導体キャリア輸送特性の測定が可能！マイウロウェーブ反射による非…

半導体デバイスの製造にとって、キャリア移動度は、とても重要なパラメーターに なります。 『LEI-1610シリーズ』は、移動度、キャリア濃度、シート抵抗など様々な 半導体キャリア輸送特性の測定が可能な非接触移動度測定装置です。 2インチから最大8インチまでのSiウェーハ、化合物半導体（GaAs、GaN、InP等） epiウエハを非接触・破壊にてキャリア移動度、シート抵抗、シートチ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

エピ膜厚測定装置『EIR-2500』

IR反射率測定ヘッドを使用可能！高スループットのエピ膜厚測定を実現した…

『EIR-2500』は、FTIR機能と共に、赤外分光反射率計を備えた独自の エピ膜厚測定装置です。 高スループットのエピ膜厚測定を実現し、適用されるSEMI/CE規格に完全に 準拠しています。 また、EIR製品シリーズは、高性能で信頼性の高い電子機器に基づいており、 装置の稼働時間を向上してメンテナンスの必要性を減らします。 【特長】 ■ウェハーサイズ：4～12インチ ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社