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工業用X線CT装置での解析を希望されるサンプルに対し、非破壊での断面観…
ギーX線での測定が可能です。高いダイナミックレンジによる異種物質の弁別が可能な高コントラスト分析能、微細構造の測定が可能な高空間分解能を備えた装置による解析がおこなえます。 装置を開発した技術者、共同開発を行なった大学・研究機関の教授・研究員、画像解析に特化したソフトウェア技術者が測定条件の最適化や問題の解決をおこないます。また、ハードウェア技術をソフトウェア技術を組み合わせた様々な測定技術を保...
メーカー・取り扱い企業: ヤマト科学株式会社
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