• 『多変量統計解析トレーニングセミナー』11月28日・29日開催 製品画像

    『多変量統計解析トレーニングセミナー』11月28日・29日開催

    PR多変量解析の基礎・原理が良くわかる。実データを用いた解析も行う実践的な…

    2024年11月28日・29日に、当社主催のセミナー 『多変量統計解析トレーニングコース<レベル1> 理論と実践』 を開催いたします。 本コースでは、複雑なデータの関係性を速やかに解釈し、 産業界、研究界で希求される最新の多変量解析技術を どのように業務応用できるかを集中的に学べます。 多変量統計解析、スペクトル解析、知覚・官能データの解析、PAT/QbDなどを テーマに解説する、数学的説明は...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオリテイデザイン

  • キムテック ポラリスニトリル グローブ ※箱単位でサンプル進呈 製品画像

    キムテック ポラリスニトリル グローブ ※箱単位でサンプル進呈

    PRキムテック史上最高レベルの保護性能と耐久性、人間工学に基づいた快適さを…

    キムテック独自の高品質なニトリルを配合し、非常に柔らかく耐久性に優れています。 人間工学認証も取得し、長時間の作業でも疲労を軽減し、快適にご使用頂けます。 また、幅広い化学物質ならびに抗がん剤で耐性を試験済で安心して安全にご使用頂けます。 改正された労働安全衛生法(関係政省令)*に対応しております。 耐透過性評価試験のデータがございますので、必要に応じてお問合せください。 *『2...

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    メーカー・取り扱い企業: キムテック(Kimtech)・ビジネスユニット 旧キンバリークラーク・サイエンティフィックPPE事業部

  • ウェハ表面欠陥検査装置(レーザー式) 製品画像

    ウェハ表面欠陥検査装置(レーザー式)

    高出力レーザーで微小欠陥を検出!

    検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査(約91秒/6inch) ・PSL 50nm(オプション追加で40nm)相当の微小欠陥検出 ・欠陥の凹凸を弁別 ・SEM等での分析用にケガキ可能 ・レーザー式で検出した欠陥をリアルタイム観察可能な画像式との複合機も提案可能 ・SiCウェハ表面の欠陥検出に対応した波長355nmのレーザーも搭載可能(開発中)...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

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