【デモ機あり】 粉体溶解機 / 粉末溶解ポンプ

PR様々な粉体を液体中に分散・溶解が可能！　ダマや溶け残りなし・短時間処理…

粉体の液体中への分散・溶解というと、タンク内の大型撹拌機で攪拌する、もしくはハンドミキサーで小容量の攪拌を何回も繰り返す、というのが一般的かと思います。ただ、これらの方法ではダマや粉体の溶け残り、処理時間が遅い、作業者に負担がかかるなど、お悩みはありませんか？ 弊社の粉体溶解機を使用すれば粉体投入口が腰の位置にあるため、作業者の負担が軽減され効率的な作業が可能です。また、短時間で処理ができ、ダマ...

メーカー・取り扱い企業： 関西乳機株式会社

気中ハンドヘルドパーティクルカウンタ『KC-52A』

PRタッチパネル式で多機能！多点モニタリングシステムに対応しています

『KC-52A』は、ISO 21501-4(JIS B 9921)に適合した 気中ハンドヘルドパーティクルカウンタです。 医薬品・飲料・食料品の製造工程やパッキング工程の環境管理、 半導体製造現場の環境管理、病院や医療現場の清浄度管理などに 適しています。　　　　　　　　　　　　　　 【特長】 ■粒径区分は0.3、0.5、1.0、2.0、5.0、10.0μm(6段階) ■パスワードの設定により...

メーカー・取り扱い企業： トスク株式会社(旧十慈フィールド)

IC-MSシステムによる過酸化水素中の陰イオンの分析

過酸化水素中の不純物イオン分析に役立つソリューション"イオンクロマトグ…

過酸化水素は殺菌剤、漂白剤、大気吸収液、半導体洗浄液など工業、医療の幅広い分野で使用されています。用途によっては過酸化水素中の微量の不純物イオンが問題を引き起こすことがあるため、高純度の過酸化水素が求められています。 過酸化水素中の陰イオン...

メーカー・取り扱い企業： サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.

【近赤外領域(SWIR／NIR)】冷却カメラシステム

近赤外領域対応！SONY製SWIRセンサー搭載モデル、ブラックシリコン…

ルタイム動画撮影が可能。 ・瞬間的な現象をとらえるのに最適。 ■ 高解像度SWIR　BH-71IGA ・1280×1024の高解像度SWIRカメラ。 ・カメラリンク通信規格準拠。 ・半導体やパネルの検査など近赤外マシンビジョン用途に最適。...

メーカー・取り扱い企業： ビットラン株式会社

プローブに原子を採用した表面分析装置（CAICISSの発展版）

結晶方位・極製は15分で一目瞭然！帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）を発展させ、電気的に中性なHe(N...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パスカル

ガス分析計およびガス分析計システム

産業・医療ガスメーカーならではの『ガス分析計』および『ガス分析計システ…

等お客様の立場になって 分析システムをご提案します。お客様自身で操作される手動システムから 全自動システムまで、幅広い内容にお応えします。 【対応例】 ■深冷分離装置制御システム ■半導体精製装置監視モニター ■ガス混合機モニタリングシステム ■硝子製造工場モニタリングシステム ■医療用酸素充填所等 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 日本エア・リキード合同会社

顕微鏡用レーザーコンバイナ 『iChrome FLE』

iChrome FLEは最大7波長を出力する顕微鏡用レーザーコンバイ…

または2ラインから選択可能で、内蔵したCOOL AC 自動ファイバアライメント機能により貴重な研究時間をレーザーの再調整に費やす必要がありません。また独自開発のAOM/AOTFを搭載しない「オール半導体レーザー」設計により「ゼロフォトン」状態を実現。波長間のクロストーク問題を解決し、最高の画像コントラストと卓越した寿命を可能としました。...

メーカー・取り扱い企業： トプティカフォトニクス株式会社 営業部

【技術資料】-LIBの分析-ESCAによるMn価数解析

市販のマンガン酸リチウムを用いて、Mn価数を解析した事例などをご紹介

【適用分野】 ■電池・半導体材料 ■フラットパネルディスプレイ ■その他無機製品 ■その他有機製品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東ソー分析センター

飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』

結晶方位・極製は15分で一目瞭然！帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法（CAICISS）を発展させ、電気的に中性なHe(N...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社パスカル