• IC-MSシステムによる過酸化水素中の陰イオンの分析 製品画像

    IC-MSシステムによる過酸化水素中の陰イオンの分析

    過酸化水素中の不純物イオン分析に役立つソリューション"イオンクロマトグ…

    過酸化水素は殺菌剤、漂白剤、大気吸収液、半導体洗浄液など工業、医療の幅広い分野で使用されています。用途によっては過酸化水素中の微量の不純物イオンが問題を引き起こすことがあるため、高純度の過酸化水素が求められています。 過酸化水素中の陰イオン...

    • IPROS806858797492645094.jpg

    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 【近赤外領域(SWIR/NIR)】冷却カメラシステム 製品画像

    【近赤外領域(SWIR/NIR)】冷却カメラシステム

    近赤外領域対応!SONY製SWIRセンサー搭載モデル、ブラックシリコン…

    ルタイム動画撮影が可能。 ・瞬間的な現象をとらえるのに最適。 ■ 高解像度SWIR BH-71IGA ・1280×1024の高解像度SWIRカメラ。 ・カメラリンク通信規格準拠。 ・半導体やパネルの検査など近赤外マシンビジョン用途に最適。...

    メーカー・取り扱い企業: ビットラン株式会社

  • プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版) 製品画像

    プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版)

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(N...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 顕微鏡用レーザーコンバイナ 『iChrome FLE』 製品画像

    顕微鏡用レーザーコンバイナ 『iChrome FLE』

    iChrome FLEは最大7波長を出力する顕微鏡用レーザーコンバイ…

    または2ラインから選択可能で、内蔵したCOOL AC 自動ファイバアライメント機能により貴重な研究時間をレーザーの再調整に費やす必要がありません。また独自開発のAOM/AOTFを搭載しない「オール半導体レーザー」設計により「ゼロフォトン」状態を実現。波長間のクロストーク問題を解決し、最高の画像コントラストと卓越した寿命を可能としました。...

    メーカー・取り扱い企業: トプティカフォトニクス株式会社 営業部

  • 【技術資料】-LIBの分析-ESCAによるMn価数解析 製品画像

    【技術資料】-LIBの分析-ESCAによるMn価数解析

    市販のマンガン酸リチウムを用いて、Mn価数を解析した事例などをご紹介

    【適用分野】 ■電池・半導体材料 ■フラットパネルディスプレイ ■その他無機製品 ■その他有機製品 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東ソー分析センター

  • 飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』 製品画像

    飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(N...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

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