• 耐摩耗性、切れ味抜群!超硬丸ナイフ(丸刃)およびセラミック刃 製品画像

    耐摩耗性、切れ味抜群!超硬丸ナイフ(丸刃)およびセラミック刃

    PR超硬丸ナイフ、セラミック刃はアルスにお任せください。お客様のご要望の仕…

    このようなお悩みを抱えていませんか。 ・市販の丸ナイフでは耐久性がなく、頻繁に替刃が必要 ・市販の丸ナイフでは、特殊素材がカットできない ・特注で刃を作りたいが、量が少なく高額になる ・市販規格の超硬丸ナイフを機械に取り付けたい アルスは、そんなお客様のお悩みを解決します。 金属粉、金属イオン、水分や水蒸気、薬剤を嫌う切断物には セラミック刃のご提案も可能です。 お客様...

    • 超硬丸刃.png
    • ceramic.jpg
    • ceramic.png

    メーカー・取り扱い企業: アルスコーポレーション株式会社

  • 技術情報誌 202102-03 XAFSによる半導体中の状態評価 製品画像

    技術情報誌 202102-03 XAFSによる半導体中の状態評価

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 半導体へのドーパント添加は、電気特性を制御する上で非常に重要な技術であり、添加によるキャリア発生のメカニズムは固体物理の理論に基づいて理解されているが、ドーパント元素における直接的な化学状態や配位環境の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202305-02 加熱in-situ TEM 製品画像

    技術情報誌 202305-02 加熱in-situ TEM

    加熱in-situ TEMを用い、半導体デバイスの熱処理中の材料の構造…

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 半導体デバイスの開発・製造において、熱処理工程における材料の構造変化を把握することは非常に重要である。加熱in-situ TEMを用いることにより、熱処理中の材料の熱挙動をnmレベルで可視化し、構造変化...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析 製品画像

    技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 酸化ガリウム(Ga2O3)は次世代パワー半導体材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 202304-03 分離膜のナノ貫通孔径の選択的測定 製品画像

    技術情報誌 202304-03 分離膜のナノ貫通孔径の選択的測定

    水銀透過法の概要及び既存手法との比較事例を通じて、水銀透過法が機能層の…

    生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 サステナブルな社会の実現において、優れた透過性能を持つ膜による省エネで低コストな分離・精製技術の開発がエネルギー、半導体、医療など様々な分野で期待されている。膜の透過性能は細孔構造に支配されるため、高度化した細孔構造を評価するための技術が重要となる。ここでは、東レリサーチセンターが独自に開発した水銀透過法の概要、及...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201903-01 最先端SIMS分析装置 製品画像

    技術情報誌 201903-01 最先端SIMS分析装置

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    メージング測定を行うことが可能である。本稿では、NanoSIMS 50Lの装置の特徴と分析事例を紹介する。 【目次】 1.はじめに 2.分析装置の概要 3.毛髪断面の分析事例 4.SiC半導体デバイスの分析事例 5.まとめ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • 技術情報誌 201901-02 ナノメートルスケール局所構造解析 製品画像

    技術情報誌 201901-02 ナノメートルスケール局所構造解析

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    よるSiO2/SiC界面応力解析 4.まとめ 【図表】 図1 近接場光を利用したラマン分光法 図2 AFM(Atomic Force Microscope)位相像、チューブの存在状態(S:半導体型、M:金属型)、各チューブのRBMスペクトル 図3 AFM-Ramanスペクトル、D/G比分布 図4 交点のAFM-Ramanスペクトル 図5 近接場ラマンの光学系 図6 SiO2/Si...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

1〜6 件 / 全 6 件
表示件数
15件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • Final_300_21-CAN-51700 SignalStar MVP 3rd Party Banners_Ad1 A New Star-300x300_v2-JP.jpg