• MOE抗体設計アプリケーション 製品画像

    MOE抗体設計アプリケーション

    PRコンピューターで抗体モデリング・抗体設計を行うための有用なアプリケーシ…

    近年、抗体医薬品開発を効率化するためにインシリコによる合理的な設計が益々重要となっています。 統合計算化学システム MOEは、低分子、ペプチド、抗体、核酸などの広範なスケールの分子の設計に活用でき、創薬モダリティー開発に対応した分子モデリングソフトウェアです。ホモロジーモデリング、タンパク質デザイン、バーチャルファージディスプレイ、エピトープマッピング、分子表面解析、物性推算、化学的修飾候補部位...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社モルシス

  • AI駆動型ラベルフリーイメージングセルソーター 製品画像

    AI駆動型ラベルフリーイメージングセルソーター

    PR新規AIベースの細胞形態データ分析手法を利用した、新しいアプローチで、…

    『VisionSort』は、ゴーストサイトメトリー技術を搭載したセルソーターです。 独自に開発した光学技術により、細胞の形態的特徴を包括的かつ高速に測定・解析することができます。 取得した形態情報を機械学習(AI)によって分析することによって、細胞を染色せずに、ラベルフリーで分析することができます。 細胞治療/再生医療、疾患プロファイリング、創薬といった幅広い分野での研究開発にご利用い...

    メーカー・取り扱い企業: シンクサイト株式会社

  • 【超音波探傷検査】非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出 製品画像

    【超音波探傷検査】非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出

    エコー波形表示で縦横の断面状況を確認できる!非破壊で素材内部の微細な欠…

    『超音波探傷システム』は、超音波波形データを画像化して画像処理技術にて 欠陥を検出し、欠陥を検出する為の好適な条件(探触子・周波数・搬送系など) を試験により選定します。 長年培った画像処理、ハードウェアのノウハウで超音波探傷を自動検査装置 として展開。 お客様の...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 【高さ方向の不良検出可能】3Dカメラ高さ計測システム 製品画像

    【高さ方向の不良検出可能】3Dカメラ高さ計測システム

    高さ以外にも、反射光・拡散光などのデータを取得!対象の表面状態の検査も…

    『3Dカメラ高さ計測システム』は、通常の画像検査では検出できない「高さ 方向」の不良が検出できます。 光切断法による3次元スキャンにより、高速にプロファイルを取り込むことが でき、検査精度によりレーザー変位計も対応。 お客様のニーズにより...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 【外観検査】カラー&モノクロラインカメラ対応!原反検査システム 製品画像

    【外観検査】カラー&モノクロラインカメラ対応!原反検査システム

    カラーラインカメラ&モノクロラインカメラともに対応!シート、フィルム、…

    『原反検査システム』は、途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に 発生する欠陥(異物、キズ、スジ、ピンホール等)を検出します。 運転動作中に検出された欠陥画像をリアルタイムに表示。 画像データは検出位置情報と共に記録されており、集計ソフト(オプション) を利用して、運転終了後に検出結果を再確認できます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • パターン外観検査システム 製品画像

    パターン外観検査システム

    マスター登録方式を採用!16Kラインセンサカメラによる超高解像度画像処…

    『パターン外観検査システム』は、モノクロ/カラーラインセンサカメラ (最大16K)により超高解像度の画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・ 異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出します。 検査対象パターン輪郭を直線で囲み、マスタとなる形状を登録し、輪郭の内側・ 外側を個別に検査します。検出強度を個別に設定することが可能。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 【事例で解説】外観検査システムの課題と限界 製品画像

    【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

    汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行…

    画像処理システム市場の現状と、 外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、 纏めております。 ・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題 複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。 ・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題 対象物に対して様々な欠陥検出が必要な検査において、複...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 【全数検査対応】容器外観検査システム 製品画像

    【全数検査対応】容器外観検査システム

    フィルタ処理や欠け検査など多種の検査機能!独自の検査処理を設定できます

    『容器外観検査システム』は、容器を回転させながら外観を撮像し、画像を 分析し欠陥を検出します。 エリアセンサカメラとラインセンサカメラを組み合わせることにより、内面・ 外面・側面の全面検査を実現。また、画像処理を高速でおこなうため、全数 検査にも対応できます。 また、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 【良否判定機能あり】UISの寸法測定システム 製品画像

    【良否判定機能あり】UISの寸法測定システム

    各種対象の「外形・長さ・ピッチ」などの計測に合わせ、高精度な良否判定機…

    します。測定手法、測定ポイントを規準(値)としてあらかじめ登録し、 瞬時に寸法を測定できるとともに、手作業による測定誤差を減らします。 計測イメージ・原理として、まず画像中の物体の境界を検出検出したエッジ から、各種形状へ近似処理を行い、様々な幾何学計算から寸法を測定。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー/アンローダーを 備えた自動検査装置としてもご提供致し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 【事例集プレゼント】画像検査システム『URCP』 製品画像

    【事例集プレゼント】画像検査システム『URCP』

    ニーズや対象に応じた画像検査システムを構築。ソフト・ハード含め一貫対応…

    【URCPの特徴】 ■ワークや検出内容にあわせて、多種多様なカメラ・照明機器に対応  ・カメラ一例:主要メーカに対応   〈エリアセンサカメラ〉   1M、2M、5M、16M、29M、45M   〈ラインセンサカメラ〉  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

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