• 全数検査対応!容器外観検査システム 製品画像

    全数検査対応!容器外観検査システム

    フィルタ処理や欠け検査など多種の検査機能!独自の検査処理を設定できます

    『容器外観検査システム』は、容器を回転させながら外観を撮像し、画像を 分析し欠陥を検出します。 エリアセンサカメラとラインセンサカメラを組み合わせることにより、内面・ 外面・側面の全面検査を実現。また、画像処理を高速でおこなうため、全数 検査にも対応できます。 また、エッジ検出、直線近似、楕円近似、マスク処理、フィルタ処理、2値化 などを組合せて独自の検査処理を設定できます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 事例で解説!外観検査システムの課題と限界 製品画像

    事例で解説!外観検査システムの課題と限界

    汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行…

    ・外観検査の背景と課題 市場伸長が見込まれる画像処理システム市場の現状と、 外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、 纏めております。 ・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題 複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。 ・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題 対象物...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 外観検査|カラー&モノクロラインカメラ対応!原反検査システム 製品画像

    外観検査|カラー&モノクロラインカメラ対応!原反検査システム

    カラーラインカメラ&モノクロラインカメラともに対応!シート、フィルム、…

    『原反検査システム』は、途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に 発生する欠陥(異物、キズ、スジ、ピンホール等)を検出します。 運転動作中に検出された欠陥画像をリアルタイムに表示。 画像データは検出位置情報と共に記録されており、集計ソフト(オプション) を利用して、運転終了後に検出結果を再確認できます。 また、運転動作中に検出された欠陥の位置を、カメラの位置を基点に一定距離 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • リアルタイム管理!検査データ収集システム 製品画像

    リアルタイム管理!検査データ収集システム

    生産情報と連携させることで、過去の検査履歴データを容易に参照することが…

    『検査データ収集システム』は、URCPの検査アプリケーションからリアル タイムで検査結果データを収集し管理できます。 画像処理装置の検査結果をリアルタイムに収集でき、データ収集中でも過去の 検査履歴を参照することが可能。 検査装置は、お客様のご要求仕様にマッチした検査装置をご提供致します。 手動検査装置や半自動検査装置からローダー/アンローダーを備えた自動検査 装置まで幅広いニ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • パターン外観検査システム 製品画像

    パターン外観検査システム

    マスター登録方式を採用!16Kラインセンサカメラによる超高解像度画像処…

    『パターン外観検査システム』は、モノクロ/カラーラインセンサカメラ (最大16K)により超高解像度の画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・ 異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出します。 検査対象パターン輪郭を直線で囲み、マスタとなる形状を登録し、輪郭の内側・ 外側を個別に検査します。検出強度を個別に設定することが可能。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー/アン...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 成分の違いを簡単識別!近赤外画像 外観検査システム 製品画像

    成分の違いを簡単識別!近赤外画像 外観検査システム

    容器内部を非破壊・非接触・非浸水で検査可能!人の目で見えないものが可視…

    『近赤外画像 外観検査システム』は、低密度なパッケージを透過するので 中身の画像検査が行えます。 撮像対象物や検査用途に合った好適なカメラ・照明等を選定。検査装置・ 検査ソフトと併せてご提供します。 成分の違いで見え方が変わるため、簡単に識別できるようになります。 【特長】 ■低密度なパッケージを透過 ■中身の画像検査が行える ■容器内部を非破壊・非接触・非浸水で検査可...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 超音波探傷検査|非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出 製品画像

    超音波探傷検査|非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出

    エコー波形表示で縦横の断面状況を確認できる!非破壊で素材内部の微細な欠…

    『超音波探傷システム』は、超音波波形データを画像化して画像処理技術にて 欠陥を検出し、欠陥を検出する為の好適な条件(探触子・周波数・搬送系など) を試験により選定します。 長年培った画像処理、ハードウェアのノウハウで超音波探傷を自動検査装置 として展開。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー/アンローダーを 備えた自動検査装置としてもご提供致します。 【特長...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 事例集プレゼント!画像検査システム『URCP』 製品画像

    事例集プレゼント!画像検査システム『URCP』

    ニーズや対象に応じた画像検査システムを構築。ソフト・ハード含め一貫対応…

    『URCP』は、様々な業種・製品の検査で導入実績があるソフトウェアを パッケージングした画像処理システムの構築ソリューションです。 ニーズや検査対象に応じて、組み合わせやカスタマイズが可能。 サンプル評価による光学機器の選定から、 搬送装置や画像検査システムの導入まで一貫して対応できます。 【ソリューション事例】 ■パターン外観検査システム 対象:電子部品(セラミック基板、ア...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 高さ方向の不良検出可能!3Dカメラ高さ計測システム 製品画像

    高さ方向の不良検出可能!3Dカメラ高さ計測システム

    高さ以外にも、反射光・拡散光などのデータを取得!対象の表面状態の検査も…

    『3Dカメラ高さ計測システム』は、通常の画像検査では検出できない「高さ 方向」の不良が検出できます。 光切断法による3次元スキャンにより、高速にプロファイルを取り込むことが でき、検査精度によりレーザー変位計も対応。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー/アンローダーを 備えた自動検査装置としてもご提供致します。 【特長】 ■通常の画像検査では検出できない「...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 良否判定機能あり!UISの寸法測定システム 製品画像

    良否判定機能あり!UISの寸法測定システム

    各種対象の「外形・長さ・ピッチ」などの計測に合わせ、高精度な良否判定機…

    『寸法測定システム』は、カメラで写した映像を解析し、物体の寸法を計測 します。測定手法、測定ポイントを規準(値)としてあらかじめ登録し、 瞬時に寸法を測定できるとともに、手作業による測定誤差を減らします。 計測イメージ・原理として、まず画像中の物体の境界を検出。検出したエッジ から、各種形状へ近似処理を行い、様々な幾何学計算から寸法を測定。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 密着イメージセンサ外観検査システム 製品画像

    密着イメージセンサ外観検査システム

    衝撃/振動に強いので、設置場所を選びません!様々な波長の読み取り光源が…

    『密着イメージセンサ外観検査システム』は、幅広なワークの中央部や端部、 どの部分でも歪みがない画像が撮像できます。 撮像画像を比較したところ、ラインセンサカメラで撮影した画像は視野端に 歪みがありますが、密着イメージセンサカメラで撮影した画像は視野端に 歪みはありませんでした。 また、密着して読み取るため、光量のロスが少なく消費電力が抑えられます。 【特長】 ■ワーク全幅...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

1〜11 件 / 全 11 件
表示件数
60件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • Final_300_21-CAN-51700 SignalStar MVP 3rd Party Banners_Ad1 A New Star-300x300_v2-JP.jpg
  • banner_202410_jp.jpg