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【納入実績】計測・制御機器 イメージセンサ検査用 標準光源装置
半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置。
CCDやCMOS形のイメージセンサ、エリアセンサ、リニアセンサ、 近赤外線センサなどの半導体の性能試験(検査)をする際に使用する光源装置です。 光源装置は、半導体製造前工程テスト(ウェハの電気的特性試験)や、 後工程テスト(パッケージの電気的機能試験)、R&D評価試験などで、 テストシステム装置と接続して使用されます。 各種テストシステムと接続が可能で、300mmウェハ対応、低照...
メーカー・取り扱い企業: 応用電機株式会社 神奈川事業部(大和工場)
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