技術資料『JIS規格「分銅」と製造工程の紹介』

PRJIS分銅の製造から市場供給までの流れをご紹介。JIS規格の概要も解説

当社は、質量計測を主軸とし、天びん・分銅の製造や校正サービスを手掛けています。 100年以上にわたって蓄積したノウハウを元に、高度な技術が求められる 機械式はかりの組立や、1μgレベルの高精度な質量調整・校正が可能です。 本資料では、分銅の信頼性を担保する「JISマーク付き分銅」について紹介。 精度等級や特性評価基準などのほか、製造・検査工程などを紹介しています。 【掲載内容(一...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社村上衡器製作所

AI駆動型ラベルフリーイメージングセルソーター

PR新規AIベースの細胞形態データ分析手法を利用した、新しいアプローチで、…

『VisionSort』は、ゴーストサイトメトリー技術を搭載したセルソーターです。 独自に開発した光学技術により、細胞の形態的特徴を包括的かつ高速に測定・解析することができます。 取得した形態情報を機械学習（AI）によって分析することによって、細胞を染色せずに、ラベルフリーで分析することができます。 細胞治療/再生医療、疾患プロファイリング、創薬といった幅広い分野での研究開発にご利用い...

メーカー・取り扱い企業： シンクサイト株式会社

【SiC・GaN対応】パワーデバイステスター（半導体テスター）

SiC、GaNなど新素材に対応すべく、高耐圧、高速スイッチング用途の計…

SiC、GaNデバイスにも対応できる計測や治具開発も行います。 【ラインアップ】 ＜『N50シリーズ』（200V耐圧仕様）＞ 　■FPGAの搭載でテスター内部をフルロジックで同期でき、高速測定を実現 　■コンパクトなサイズでハンドラー内への組み込みが簡単 　■測定項目：静特性、熱抵抗、L負荷 ＜『N54シリーズ』（2000V耐圧仕様）＞ 　■高耐圧＆低インピーダンス 　■d...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

パワーデバイステスター（半導体テスター）『N50シリーズ』

コンパクト＆高速計測！200V耐圧仕様のパワーデバイステスター（半導体…

『N50シリーズ』は、200V耐圧仕様で、デスクトップサイズのパワー デバイステスターです。 ハンドラー内に収納ができ、デバイス直近に設置可能。静特性、熱抵抗、 L負荷測定（アバランシェ）を行うことができます。 また、当社では、開発評価用途等のカスタムニーズにも対応致します。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■200V耐圧仕様 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター

『マルチ光学特性評価装置』

パネルの自動入れ替え・連続計測に！

『マルチ光学特性評価装置』は、あらかじめ複数枚（最大10枚）のパネルを 装着することにより、無人で連続測定・評価を行う事が出来る装置です。 パネルの脱着・パネルの測定面の移動・視野角変更等を すべて多軸ロボットで行うことで、装置のコストダウンを図りました。 また、治具クランプをスライドさせるこ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本技術センター