FFP計測装置【※デモ測定対応可能】

専用光学系＋画像処理・解析方式による光ビームのFFPの観察・計測用シス…

『FFP計測装置』は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール 等のFFP(ファーフィールドパターン：遠視野像)を計測する装置です。 専用光学系＋画像処理方式により、様々な光デバイスのFFP計測・ 放射角度分布計測・出射 N.A. 計測・解析に応用可能です。 光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで 様々なシステム構築が可能です。 【特長...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置

シリコンフォトニクス導波路等の微細構造導波路デバイスの挿入損失を高速・…

『光学系方式超微細導波路挿入損失測定装置』は、当社の簡易型光計測用光学系 M-Scope type Jを使用した光学系方式挿入損失自動測定装置です。 光ファイバ計測ポートと同軸観察画像検出器により、被測定光導波路の 入射側・出射側コア端面画像を直接観察、同時に光ファイバによる 自動パワー調芯を行います。 画像処理による粗調芯と光ファイバ微調芯（光パワー調芯）を併用、 超微細導波...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。 これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの 発光ビームプロファイル・ビー...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

高出力レーザ用FFP計測装置

～10Wクラス高出力レーザの放射角度分布計測に対応したFFP計測装置

『高出力レーザ用FFP計測装置』は、～10Wクラス高出力レーザの 放射角度分布（ファーフィールドパターン）を高精度で迅速に測定する装置です。 専用設計の高出力レーザ用FFP計測光学系M-Scope type HFと2次元画像検出器・ 画像処理方式の組合せで、高出力発光素子や発光モジュールからの出射ビームの 放射角度分布（FFP：ファーフィールドパターン）をリアルタイムで取得・測定可能で...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

『M-Scope typeC／コリメート光調整システム』

検出器の選択により可視・近赤外まで対応可能！

『M-Scope typeC／コリメート光調整システム』は、専用光学系と、 画像解析による、LDモジュール等コリメート光調整用光学システムです。 本光学系および処理装置を応用し、各種精密位置決めステージと組み合わせた 各種モジュール調整装置の提案をすることも可能です。 検出器の選択により、可視・近赤外まで対応が可能です。 【特長】 ■検出器の選択が可能 ■可視・近赤外まで...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光テスター（光配線導波路高速導通検査装置）

光配線基板用多チャンネルポリマー光導波路の量産検査用光導通検査装置

『光テスター（光配線導波路高速導通検査装置）』は、光配線基板用の 多チャンネルポリマー光導波路各チャンネルの導通を高速・高精度で検査する装置です。 測定光一括照射方式と高速導通検査ソフトウエアにより、複数チャンネルの 光導波路の光導通を一度にかつ迅速に測定することが可能です。 これにより、従来のファイバ調芯による損失測定方式では実現できなかった 光配線導波路量産段階における高速光...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

光ビーム解析モジュール『AP013』

さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム

『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視～近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。 【特長】 ...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル 計測用のNFP計測光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を 反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、ま...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社