• 【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察 製品画像

    【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察

    アルコール消毒前後でマスク表面の形状を比較

    ウイルスによる感染症予防のためマスク使用の頻度があがっています。しかしながらその使用方法や耐性についての根拠となる構造的なデータは乏しい状況です。本資料では、アルコール消毒前後のマスク表面の繊維をSEMで観察した結果を紹介します。アルコール消毒後では、繊維の形状が変化し、また消毒前の特徴的な凸形状が少なくなっていることがわかりました。 測定法: SEM 製品分野:日用品、ウイルス対策関連品 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 槽内監視カメラ/試料観察カメラ<環境試験器用> 製品画像

    槽内監視カメラ/試料観察カメラ<環境試験器用>

    お持ちの装置に簡単に取り付け可能!あなたに代わってサンプルを監視/観察…

    当社では高湿環境でも曇らず、100℃以上でも使える『槽内監視カメラ/ 試料観察カメラ』を取り扱っております。 「槽内監視カメラ」は、槽内のサンプルを全体的に直接撮影し、全体的な 変化について監視を行います。「試料観察カメラ」は、槽内のサンプルの 表面の形状や色の変化を、高精細な画像(4K)で観察。 継時変化を記録・管理したいというご要望に、技術でお応えいたします。 【特長】...

    メーカー・取り扱い企業: エスペック株式会社

  • 表面・界面物性解析装置『SAICAS EN・NN』 製品画像

    表面・界面物性解析装置『SAICAS EN・NN』

    光・水・熱および表面・界面をキーワードに新しい技術フィールドを切り開く…

    『SAICAS EN・NN』は、被着体の剥離強度とせん断強度を測定する装置です。 せん断強度などの物性測定以外にも、従来では困難であった異種材料の 界面近傍の状態観察、塗膜や混合材の深さ方向への切削面の観察による 均一、不均一などの分散状態の解析、耐候性試験後の表層からの内面まで 劣化状態の追跡などが可能です。 【測定モード】 ■定荷重モード :一定の垂直荷重を保って切削する方...

    メーカー・取り扱い企業: ダイプラ・ウィンテス株式会社 本社

  • [FIB]集束イオンビーム加工 製品画像

    [FIB]集束イオンビーム加工

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

    FIBは、数nm~数百nm径に集束したイオンビームのことで、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり(スパッタ)、特定領域に炭素(C)・タングステン(W)・プラチナ(Pt)等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域(数nm~数十μm)のエッチングによる任意形状加工が可能 (通常...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【書籍】ナノ粒子塗工液の調整(No.1998BOD) 製品画像

    【書籍】ナノ粒子塗工液の調整(No.1998BOD)

    【技術専門図書】★光学薄膜、熱特性向上、導電性制御、ハードコート、親水…

    書籍名:ナノ粒子塗工液の調整とコーティング技術 -------------------------- ★光学薄膜、熱特性向上、導電性制御、ハードコート、親水・撥水制御、光触媒 ★付着・凝集性が著しく高いナノ粒子を分散させ、塗工液にする手法を詳説 -------------------------- ■ 本書のポイント ★ナノ粒子分散で押さえておきたいポイント ・微...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社技術情報協会

  • [IP法]Arイオン研磨加工 製品画像

    [IP法]Arイオン研磨加工

    IP法は、研磨法の一種でイオンビームを用いて加工する方法です

    IP法は、エネルギー及び方向を揃えたイオンビームを試料に照射したときに試料表面から試料原子が弾き飛ばされるスパッタリング現象を利用して、試料表面を削り取る方法です。 イオン種は通常試料との化学反応の心配のない希ガス(MSTではAr)が用いられます。加工面のAES分析では遮光板成分(Ni,P)は検出下限以下でした。...カードエッジコネクタについてIP加工後、反射電子像観察を行いました。 IP法...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【書籍】エレクトロニクス用セラミックス(No.2059BOD) 製品画像

    【書籍】エレクトロニクス用セラミックス(No.2059BOD)

    【技術専門図書】製造プロセスを省エネ化するには? インフォマティクスを…

    書籍名:エレクトロニクス用セラミックスの開発、評価手法と応用 -------------------------- ★ 誘電、圧電、絶縁、耐熱性等 様々な特性の制御方法を詳解! ★ 最新の製造、開発手法を一挙掲載! ■ 本書のポイント ◆電子デバイス材料用セラミックスの開発と応用事例 ◆セラミックスの加工技術、コーティング技術 ◆新規セラミックスの開発、作製の省エ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社技術情報協会

  • 視認可視化用LED光源「パラレルアイM」 製品画像

    視認可視化用LED光源「パラレルアイM」

    【Webデモ実施中】手軽に浮遊塵埃・気流・表面異物の視認可視化に最適!

    精密な光学設計によって浮遊塵埃・気流・表面粒子の視認可視化に最適なLED光源を実現しました。 【特徴】 ■ ヒューム・粉塵などの浮遊塵埃の視認可視化が可能 ■ フィルム、パネルなどの表面に付着した粒子の観察が可能 ■ 光に厚みがあるため、トレーサを用いた気流観察が可能 ■ カラーカメラ、携帯カメラでも可視化撮影が可能 ■ LED光源のため、安全に使用可能 【詳しくはカタログを...

    メーカー・取り扱い企業: 新日本空調株式会社 ソリューション事業部

  • 防曇性評価装置『AFA-2』 製品画像

    防曇性評価装置『AFA-2』

    曇り度合いを、遠くの景色の見えやすさという実際の状況に近い観点から評価…

    コントロール(-5~60℃)が可能 ■湿度コントロール(5~70%)が可能 ■湿気を吹き付ける前後の透過光の強度を経時的に追跡可能 ■4つの解析法(明暗防曇指数、輪郭防曇指数、圧縮防曇指数、表面観察測定)での評価が可能 ■表面観察機能により、水滴サイズのφ200μm以上の測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 協和界面科学株式会社

  • EBSD分析(電子後方散乱回折法) 製品画像

    EBSD分析(電子後方散乱回折法)

    容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

    EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP:Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界(対応粒界)観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SIM]走査イオン顕微鏡法 製品画像

    [SIM]走査イオン顕微鏡法

    高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能

    ・高分解能(加速電圧30kV:4nm)でのSIM像観察が可能 ・SEM像に比べてSIM像の方が極表面層の情報が得られる ・金属結晶粒観察が可能(Al, Cu等) ・分解能はSEM像より劣る(SIM:4nm, SEM:0.5nm) ■MST所有装置の特徴 ・試料サイズ最大直径300mmφのJEIDA規格ウエハ対応が可能 ・FIB(集束イオンビーム)加工との組み合わせで連続的な断面SI...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • カバーガラス付き放射線遮蔽用ガラス『LXプレミアム』 製品画像

    カバーガラス付き放射線遮蔽用ガラス『LXプレミアム』

    ガラス表面は薬品の飛散や水拭きなどによるくもり(ヤケ)が発生しません。…

    『LXプレミアム』は、放射線遮蔽用鉛ガラス「LX-57B」と特殊カバーガラスを 合わせた、優れた放射線遮蔽性を持つ高機能ガラスです。 つなげることで幅3m以上の観察窓を実現。 多層構造なので、ガラス表面は薬品の飛散や水拭きなどによるくもり(ヤケ)が 発生しません。また衝撃安全性にも優れています。 【特長】 ■ストレスを感じさせない良好な視野を確保 ■ガラス表面は特殊カバー...

    メーカー・取り扱い企業: 電気硝子建材株式会社

  • 株式会社三井化学分析センター『分析受託業務』 製品画像

    株式会社三井化学分析センター『分析受託業務』

    「工業材料分野」「情報電子分野」においての分析受託業務!高分子分析およ…

    当社では、「工業材料分野」「情報電子分野」において、分析受託業務を 承っております。工業材料分野では、お客様の抱える技術課題を豊富な経験と分析技術を生かし、高分子分析および物性評価を通じて総合的に解決。また、情報電子分野では、半導体、ディスプレイ、電池、記録メディアなどマイクロデバイスの急速な進歩に呼応した分析評価技術をご提供します。 【試験項目】 ■高分子の構造解析 ■有機分析 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社三井化学分析センター 営業統括部

  • 【資料】開発したGFRP再生線材の繊維配向状態 製品画像

    【資料】開発したGFRP再生線材の繊維配向状態

    X線CT画像やバリ取り、ブラシ耐摩耗性試験まで!X線CT画像中心にご紹…

    当資料では、太田廣が取り扱う『GFRP再生線材の繊維配向状態』についてご紹介しています。 「今回開発した再生線材原料となる自動車部品中の繊維配向性の観察」や、 「工業用ブラシ線材中の繊維と砥粒の分布を示したX線CT画像」など、 側面からみたガラス繊維の様子や表面に近い側面からみたガラス繊維の様子など掲載。 他にも、各種性能試験結果も詳しくご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社太田廣

  • 東北大学技術:電子線ホログラムの作成方法:T16-120 製品画像

    東北大学技術:電子線ホログラムの作成方法:T16-120

    印加磁場が電子に与える影響を可視化し、 電子/スピン分布の直接観察・評…

    従来、電子線ホログラフィーを用いて、各種物質内のナノスケールでの電場や磁場を可視化したり、帯電による電子の動きを可視化したりすることが行われてきた。しかし、試料に印加した磁場が試料表面や試料表面近傍に存在する二次電子に対してどのような影響を与えるかについては、未だ可視化して評価することができないという課題があった。 本発明によって、磁場の印加が試料表面や試料表面近傍に存在する二次電子に対して与える...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東北テクノアーチ

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