- 製品・サービス
40件 - メーカー・取り扱い企業
企業
8件 - カタログ
57件
-
-
-
表面解析サービス
IHI検査計測社が取り扱う 表面解析サービスのご紹介です。 表面解析を行うことは、プロセス開発・製品の表面状態評価 経年変化/健全性評価の観点で重要となっています 【主要設備】 ○FE-SEM/EDS分析装置 ・分析領域：深さ方向：数μm、観察視野：5×104倍 ・ 走査型電顕により表面形状を観察しながら 元素の定性/定量分析実施。表面形状および付着元素の概...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測
-
-
-
-
パフ表面のデジタルマイクロスコープ観察
ファンデーション用パフ表面形状と化粧品付着具合をデジタルマイクロスコープを用いて評価しました。 デジタルマイクロスコープは光学顕微鏡と比べて被写界深度があり、顕微鏡ではピントが合わなかった凹凸の大きな対象物も正確に観察することが可能です。 市販の海外製パフ表面の観察結果を図1～4に示します。パフの表面形状とファンデーションの付き具合が確認できます。また、図5のように手の表面を直接観察することも...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
AFMにより、皮膚表面におけるナノスケールの凹凸を可視化
医薬品・化粧品の有効性・安全性試験において、近年動物実験代替法の開発が進められており、中でも三次元培養皮膚による試験方法が注目されています。本事例では、化粧品（ローション剤）の経皮吸収試験を実施した三次元培養ヒト皮膚を、AFM（原子間力顕微鏡法）で測定しました。皮膚表面の微小形状を視覚的に評価でき、また、任意の箇所の粗さを数値データで評価することも可能です。大気条件下で測定することにより、真空条件...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です
走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察した事例をご紹介します。...詳しいデータ...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行ってい…
主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡（HR-TEM）】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社イオンテクノセンター
-
-
-
-
走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能…
■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。 ...【主要設備】 ・設備（機械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM） S-4000（日立） ・主な仕様 倍率： ×100～300,000倍 （～100,000までは保証範囲） 試料台サイズ： 15mm（径） 加速電圧：...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社魁半導体
-
-
-
-
最先端の電子顕微鏡観察手法を駆使し、医薬分野のお客様のニーズにお応えし…
試料の極表面や断面をナノオーダーで電子顕微鏡観察・分析するには、加工によるダメージや汚染のない試料作製技術が不可欠です。 当社は、これまでに培った試料作製技術により最適な方法で試料加工した上で、極低加速電圧走査電子顕微鏡(ULV-SEM)や収差補正走査透過電子顕微鏡(Cs-STEM)による最先端の観察・分析データをご提供いたします。...極低加速電圧SEM装置と特徴 ＜装置＞ ZEISS社製...
メーカー・取り扱い企業： JFEテクノリサーチ株式会社
-
-
-
-
広域の表面形状観察が可能
走査型白色干渉計（光干渉計）は、試料の表面形状を「高い垂直(Z)分解能(0.1nm)と広い(X-Y)測定視野(50μm～4.2mm)」で高精度に、非接触3次元測定を行うことが可能です。4.2mm×4.2mmの視野まで測定可能です。...詳しいデータはカタログをご覧ください...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価
リチウムイオン二次電池に使われているセパレータに代表されるように、材料の多孔性や形状といった微細構造は製品の特性や機能を左右します。材料が樹脂やポリプロピレン(PP)など軟化点が低い場合、観察時の電子線照射により試料が損傷を受け、本来の構造が変化してしまうことがあります。 加速電圧0.1kVという極低加速SEM観察により、変質を抑えて試料最表面の形状を詳細に評価した事例をご紹介します。...詳し...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察で…
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。 【要旨】 X線顕微鏡は、試料の内部構造をµmオーダーの高空間分解能で非破壊観察できる装置であり、CT（コンピュータートモグラフィ）測定することで三次元形態の観察も可能である。特に電子顕微鏡では困難な、液体と材料の接触状態や、空孔を有する材料内部における液体の存在状態などの評価...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター
-
-
-
-
Csコレクタ付STEMにより原子レベルでの観察が可能です
パワーデバイス・光デバイスとして実用化されているGaNは六方晶ウルツ鉱構造をとり、c軸方向に結晶学的な非対称性（Ga極性とN極性）が存在します。Ga極性とN極性ではエピタキシャル膜の成長プロセスが異なるほか、結晶の表面物性・化学反応性も異なります。 本資料では、GaNの極性を環状明視野(ABF)-STEM観察により評価しました。その結果、Gaサイト・Nサイトの位置を特定することができ、視覚的にG...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
大気非暴露で前処理から測定・観察まで行います
容量低下が見られるリチウムイオン二次電池負極表面を大気非暴露で評価した結果、100～200nm程度のCoを含む付着層が確認され、Coは金属状態であることがわかりました。 適用可能な手法観察手法：FIB‐TEM, SEM 表面分析：SIMS,XPS,AES,TOF‐SIMS その他構造評価等も可能です。 測定法：SEM・FIB・TEM・XPS・EDX 製品分野：二次電池 分析目的：化学結...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
分析の総合力で問題を解決します！
株式会社東ソー分析センターは、これまで培ってきた無機・有機・ 高分子などさまざまな材料の分析技術を通して、お客様の問題解決の お手伝いをさせていただいております。 「現象を冷静に観る」姿勢を大切にしており、単なる分析データの提供 だけではなく、どの様な現象が起こっているかを探りつつ問題を正確に 把握していく考える集団でありたいと考えています。 【事業内容 】 ■材料物性解析 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社東ソー分析センター
-
-
-
-
大気中の分析により変質を抑えた定量評価が可能
毛髪表面にあるキューティクルの状態を、AFMにより解析した事例をご紹介します。 AFM は、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。大気中で分析を行うため、有機物の変質や脱ガスなどを起こさず、試料本来の形状を評価可能です。本事例では、キューティクルの開き具合や付着物成分の分布、領域ごとの粗さ評価を画像で評価した他、数値処理により定量的に凹凸を評価しました。シャンプー後の毛髪の状態評価...
メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
-
-
-
-
異物、成分、構造解析などに関する理化学の分析を行います
各種製品の工程検査、不純物分析、クレームの原因調査等に、 当社の長年にわたって蓄積した経験が活かされています。 元素、組成分析をはじめ、化合物の構造解析と同定や、熱分析など、 特に形態観察・表面分析を行う異物分析は多くの実績がございます。 【特長】 ■元素、組成分析 ■化合物の構造解析と同定 ■異物分析(形態観察、表面分析) ■熱分析 ■気体透過率測定 ■一般物性測定 ...
メーカー・取り扱い企業： 株式会社クレハ分析センター
-
