• シングルセル解析の新しいソリューション 製品画像

    シングルセル解析の新しいソリューション

    PR今まで見落としていた細胞内シグナル伝達をシングルセルレベルで解析可能

    InTraSeq (Intracellular Protein and Transcriptomic Sequencing) は、RNA量だけでなく、細胞内および細胞表面の両方のタンパク質を同時検出できる、シングルセルレベルのシグナル伝達経路の解析が可能な新たな技術であり、10x Genomics社のSingle Cell 3’ Reagentキットに対応します。 ※詳しくはPDFをダウンロード...

    メーカー・取り扱い企業: セルシグナリングテクノロジージャパン株式会社

  • CSTのCUT&Tag関連製品 製品画像

    CSTのCUT&Tag関連製品

    PRクロマチンプロファイリングがCUT&Tagでより迅速に!

    Cleavage Under Targets & Tagmentation (CUT&Tag) は、より迅速かつ低コストな、ChIP-seqの代替となる解析方法です。ChIP-Seqと比べて必要な細胞数が少なく、CUT&RUNと比べて短時間でタンパク質-DNA相互作用を網羅的に解析できます。 ※詳細はPDFをダウンロードいただき、ご覧ください。 【プライバシーポリシーへの同意】 Cell Si...

    メーカー・取り扱い企業: セルシグナリングテクノロジージャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

    自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…

    『Park NX-Wafer』は、欠陥のイメージングと解析を完全自動で行う AFM計測手法により、欠陥検査における生産性を1,000%向上する 原子間力顕微鏡です。 正確でハイスループットのCMPプロファイル測定のための低ノイズ 原子間力プロフ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

    欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

    『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングスト...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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