光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできま…

NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ） ■コリメート光計測が可能（対物レンズ無装着状態） ■同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置（オプション）との 　組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社

SFG（和周波発生）分光システム

非破壊・非接触で、表面(界面)の (固体・液体・気体)の分子振動解析が…

長範囲は 4300～625 cm^-1 （2.3 μm～16 μm）、分解能は ＜6 cm^-1です。 位相・強度を測定できるPhase-Sensitive （位相敏感）SFGモジュールやSFG顕微鏡モジュールもあります。 弊社は「EKSPLA社・SFG分光システム」の日本総代理店です。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東京インスツルメンツ

Quasor II EBSD System

EBSDデータおよびEDS／WDSスペクトルイメージの同時収集が容易に…

『Quasor II EBSD System』は、EBSDデータおよびEDS／WDSスペクトル イメージの同時収集が容易に行える電子線後方散乱回折解析装置です。 走査型電子顕微鏡(SEM)およびマイクロアナリシス分析によって観察される 幅広い材料の物理特性に影響を与える結晶構造を特性評価します。 1回の測定でサンプルの構造情報も化学的情報も得ることができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社／Thermo Fisher Scientific K.K.