• 小型電子線鏡筒『MINI-EOC』 製品画像

    小型電子線鏡筒『MINI-EOC』

    低加速SEM・計測用/解析用電子線源として使用可能!組込可能な小型電子…

    (LEED(低速電子回折)、 AES(オージェ電子分光法)、EDS(エネルギー分散分光法)、 EELS(電子エネルギー損失分光法))等に応用できます。 超高真空対応のSPM(走査プローブ顕微鏡)等と組み合わせてお使いください。 【特長】 ■低加速・大電流密度 ■静電型採用の為、漏洩磁場が少ない ■超高真空対応(ベーキング温度<150℃) ■省スペースでの取付けが可能(取付...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』 製品画像

    高性能ウェハ・マスク破断装置『AMCシリーズ』

    SEM用断面観察試料を簡単に作製!最小±2.5μmの位置精度でのけがき…

    為の装置です。 加工プロセスは、モニターを見ながらけがき位置のティーチングし、自動でけがきを開始します。 観察部は自動スキップされ、けがきによる内部応力を利用して試料を破断します。 電子顕微鏡のサンプルホルダー等に挿入できるように試料を切り出します。 『AMCシリーズ』は、短時間で精度よく簡単に断面試料を作製することができます。 【特長】 ■最小±2.5μmの位置精度での...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-7800』 製品画像

    破断装置『AMC-7800』

    作業性を大幅に改善!

    【仕様】 ■ケガキ精度:±15.0μm ■光学系:単眼ズーム式実態顕微鏡 ■画像系:CCDカメラ+15インチ液晶 ■倍率:約22倍~約140倍 ■本体サイズ:445W×535D×650H(mm) ■本体重量:約50kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-8000』 製品画像

    破断装置『AMC-8000』

    ケガキ精度±2.5μmを実現!

    【仕様】 ■ケガキ精度:±2.5μm ■光学系:単眼ズーム式実体顕微鏡 ■画像系:CCDカメラ+20インチ液晶 ■倍率:約70倍~約450倍 ■本体サイズ:650W×550D×750H(mm) ■本体重量:約78kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

  • 破断装置『AMC-7600』 製品画像

    破断装置『AMC-7600』

    ケガキ精度±15μmを実現!

    【仕様】 ■ケガキ精度:±15.0μm ■光学系:双眼ズーム式実体顕微鏡 ■倍率:約15倍~約94倍 ■本体サイズ:445W×770D×550H(mm) ■本体重量:約53kg ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アプコ

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