高性能IC用カラム「TSKgel SuperIC-Anion HS」では夾雑物質の影響を受けずにフッ化物イオンの定量が可能。
イオンクロマトグラフィーによるフッ化物イオンの分析において、分析条件によっては、サンプルへのエチレンジアミン添加による生成物がフッ化物イオンのピークに干渉する事が有ります。
同じようにケイ酸イオンとフッ化物イオンの分離も、フッ化物イオンの定量性には重要です。
イオンクロマトグラフ「IC-8100シリーズ」と高性能ICカラム「TSKgel SuperIC-AnionHS」を用いると、これらの干渉物の分離が可能です。
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