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PR縦式で粉末を確実に採取!高強度の優れた材質を使用した粉体試料採取器
『SAMPER(サンパー)』は、粉体サンプルの上部はもちろん、中間部や 底の粉体サンプリングも正確に採取する手動式粉体試料採取器です。 サイドフィンは流動性の悪い粉体も巻き込んでキャッチし採取。 外筒本体と内筒による回転式2重構造により粉体を逃しません。 材質はステンレス製の鋼材(SUS304)で、各種化学薬品にも強く、 物理的強度も強い構造です。 【特長】 ■縦式で粉末...
メーカー・取り扱い企業: 福伸工業株式会社
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【品質管理の方必見!】繰り返し使える粘着マット『ステップマット』
PR安心・安全に衛生管理を!洗ってくり返し使え、靴底の汚れを90%以上除去…
ステップマットはやわらかなゲル素材が靴底の細かな凹凸にまで密着し靴底の90%以上の毛髪・ほこりを吸着。 抗菌・防カビ剤を配合しており、菌やカビの繁殖が気になる食品工場でも安心! 【ステップマットの重要ポイント】 ■従来の粘着マットを圧倒する90%以上の除去率! 従来の粘着紙マットは約4割のゴミが除去できないままでしたが、ステップマットは柔らかな素材が靴底に密着し、90%以上の汚れを除去できま...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社エクシール 本社
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プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版)
結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…
『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル
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結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…
『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結晶表面構造解析では、入射角の全方位スキャ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル
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