• 気中ハンドヘルドパーティクルカウンタ『KC-52A』 製品画像

    気中ハンドヘルドパーティクルカウンタ『KC-52A』

    PRタッチパネル式で多機能!多点モニタリングシステムに対応しています

    『KC-52A』は、ISO 21501-4(JIS B 9921)に適合した 気中ハンドヘルドパーティクルカウンタです。 医薬品・飲料・食料品の製造工程やパッキング工程の環境管理、 半導体製造現場の環境管理、病院や医療現場の清浄度管理などに 適しています。               【特長】 ■粒径区分は0.3、0.5、1.0、2.0、5.0、10.0μm(6段階) ■パスワードの設定により...

    メーカー・取り扱い企業: トスク株式会社(旧十慈フィールド)

  • バックターン洗浄機 自動戻りシステム搭載 製品画像

    バックターン洗浄機 自動戻りシステム搭載

    PR洗浄後にワークが自動的に戻ってくるため、一人での作業を実現。 移動…

    『バックターン洗浄機』は、洗浄出口からワークの自重でコンベヤに落下し戻ってくる方式で、複雑な制御装置が要らず一人作業で、コスト削減が見込める洗浄システムとなっております。 掲載画像寸法:1,350(H)×1,813(W)×4,800(L)mm。 ※コンベヤー部も含めた寸法です。 ※お客様の仕様により寸法は変わります。 ※乾燥機を装備する事も可能です。 【特長】 ■一人作業でコス...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ヒタカ精機

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-Wafer』

    自動欠陥検査機能、低ノイズ、高スループット!正確な原子間力顕微鏡をご紹…

    【仕様】 ■システム仕様:電動XYステージ  ・200 mm:駆動 275 mm × 200 mm、分解能0.5 µm  ・300 mm:駆動 375 mm × 300 mm、分解能0.5 µm ■XYスキャナ...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

  • 原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』 製品画像

    原子間力顕微鏡『Park NX-HDM』

    欠陥の特定、走査および解析の自動欠陥検査を10倍迅速化する原子間力顕微…

    『Park NX-HDM』は、メディア及び基盤用の自動欠陥検査及びサブオング ストローム表面粗さ測定が可能な原子間力顕微鏡です。 広範な光学検査装置と直接リンクし、自動欠陥検査のスループットを 大幅に向上させます。 また、繰り返し測定においてもサブオングストロームの正確な 表面粗さ測定を提供します。 【特長】 ■メディアおよび基板用の自動欠陥検査 ■正確なサブオングスト...

    メーカー・取り扱い企業: パーク・システムズ・ジャパン株式会社

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