• 光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』 製品画像

    光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』

    光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能!

    【応用】 ■半導体レーザや各種レーザデバイスのビームプロファイル計測 ・NFP計測 ■各種光ファイバ出射端NFP計測・ビームプロファイル計測 ■光導波路出射端のNFP計測・ビームプロファイル計測 ■光配線導波...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • IVL測定モジュール『PMD002/IVL』 製品画像

    IVL測定モジュール『PMD002/IVL』

    18mm角大口径フォトダイオードのセンサを使用!広い放射角をカバーでき…

    『PMD002/IVL』は、半導体レーザやVCSEL等発光素子のIVL特性を 簡単に測定可能な測光モジュールです。 小型軽量のIVL測定センサヘッドは、単体での使用の他、 当社製高機能NFP計測光学系M-Scope ty...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 偏光測定モジュール『PMD002/POL』 製品画像

    偏光測定モジュール『PMD002/POL』

    空間光測定対応!各種光ファイバやLDの他、VCSELのウエハレベル測定…

    『PMD002/POL』は、空間偏光子回転方式の偏光消光比測定モジュールです。 コリメートされた入射光の偏光状態を直接測定します。 対物レンズを使用すれば、光ファイバや半導体レーザの出射偏光状態を測定できます。 また、偏光測定センサヘッドは、単体での使用の他、プローバへの 搭載・組合せによって、VCSEL等のウエハレベル偏光測定にも使用できます。 【特長...

    メーカー・取り扱い企業: シナジーオプトシステムズ株式会社

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