AI画像処理選別機『AIHシリーズ』

PRAI画像処理により裏表両面を同時に検査し、異物や不良品を高速かつ高精度…

『AIHシリーズ』は、AIによる画像処理を用いて、ピンポイントで 食品や医薬品などに含まれる異物を除去できる選別機です。 高速コンベアから投げ出された材料をCCDカメラで表裏両面から同時に検査。 検出した異物は圧縮空気の噴射によって、的確に排除されます。 2方向から検査することで、異物や不良品の見逃しを最小限に抑制。 食品や医薬品錠剤など粒状の製品、長さ3cm以下の樹脂や金属部品など...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社服部製作所

紙パック飲料の漏れを非接触で検出！紙パック容器用 リーク検査機

PR紙パックの検査で容器の凹みや傷にお困りの方必見！紙パックの非接触での検…

「ECLIPSE」は、100％非接触検査が可能な紙パック容器用のリーク検査機です。 2024年6月より、お客様のご要望に応じて、サンプルのリークテストを実施しておりましたが、 2024年7月中旬より、日本がアジア市場において先行して「ECLIPSE」を発売する運びとなりました。 また、6月中旬にはアキュレックス主催にて、アメリカのTapTone社の技術者と アジア各国の代理店が集結し、合同技術...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アキュレックス 本社、大阪営業所

【計測サービス事業】評価形表面粗さ測定器／ミツトヨ

最短半日見積り／評価形表面粗さ測定器／ミツトヨ／SV-3200S4

がり状態、機械的性質の管理の上でも表面粗さ測定は重要です。 「触針表面粗さ測定器　特徴」 ・長い距離の測定が可能 ・明瞭な形状波形が得られる 「測定範囲」 ・X軸（横方向）100mm ・Z1軸（検出部）8μｍ、80μｍ、 幾何公差の実測値を検査成績書にてお出ししております。 また、ご要望に応じて検査に使用した機器の校正証明書の添付も可能です。 弊社では、評価形表面粗さ測定器（ミツトヨ）SV...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社　営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

【分析事例】定量計算における妨害ピーク除去処理

XPS：Ｘ線光電子分光法

XPS分析では評価に使用する光電子ピーク*以外に、他軌道からの光電子ピークや、X線励起のAugerピーク等も検出されます。元素の組み合わせによっては、これらのサブピークが目的のピークに重なって評価を妨害することがあります。 *通常、最外殻に近い内殻準位から放出された、強度の高い光電子ピークを使用します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価

SEM観察を行いながら検出深さの浅い元素分析が可能

金属表面の変色や異物の簡便的な調査にはSEM-EDX分析やAES分析が適していますが、変色や異物が薄い・小さい場合は、表面のごく浅い領域（4～5nm程度）の情報が得られるAES分析が有効です。 MST保有のAES装置はSEM像を取得できるため、SEM像で着目箇所の確認をしながらAES分析を行うことが可能です。本事例では、Cu表面に存在する変色部をAES分析とSEM-EDX分析で評価し、比較したデ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XAFSによるGaNのイオン注入ダメージ評価

照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です

な評価項目となっています。 本資料ではXAFSによってGaN基板へのイオン注入によるダメージを評価した事例をご紹介します。 GaN表面近傍における結晶構造の乱れや、膜中のN2、格子間Nを高精度で検出することが可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】化学分解－GC/MS法によるポリウレタンの分析

縮合系高分子の詳細な構造解析が可能

す。 本事例ではポリウレタン製軽石をメタノールで分解し、GC/MS測定を行った結果を紹介します。ジフェニルメタンジイソシアネート、フタル酸ジメチル、トリメチロールプロパン、プロピレングリコール類が検出され、本製品はこれらの素材から構成されるポリエステルウレタンと推定されました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】EGA-MS法による発生ガス分析

GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法

試料加熱時の発生ガスの定性分析を行う方法として熱分解GC/MS法がありますが、ここで検出された各成分がそれぞれどのような温度で発生するかを調べる方法としてEGA*-MS法が有効です。この方法は、試料を昇温加熱して発生したガスをGCのカラムを通さずに直接質量分析計に導入する方法です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】エポキシ樹脂の定性

TOF-SIMS分析による成分の推定が可能

れています。エポキシ樹脂の原材料に一般的に用いられるビスフェノール類の試薬について、TOF-SIMSで測定したデータを取得しました。 MSTではサンプルの測定データと標準データとを比較することで、検出されたフラグメントイオンが何の成分由来かを調べることができ、エポキシ樹脂に用いられている材料の推定が可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

界面活性剤の定性・定量分析サービス

クロマト分離＋高感度検出により含有量を正確に評価します

当社では、成分の乳化、分散、安定化、使用感のコントロールなど、 化粧品の品質を決める要素と言える界面活性剤を、様々な手法を駆使して、 定性・定量します。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【概要】 ■定性分析︓MALDI-SpiralTOFMS×KMD プロット解析 ■定量分析︓LC-MS/MS ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社住化分析センター 健康・安全事業部

【分析事例】Si中不純物の超高感度測定

感度を高めてpptレベルの濃度分布を評価します

SIMS分析における検出感度は単位時間あたりの試料のスパッタ量に依存します。元素によりますが、取得する不純物を1元素に限定することで感度が大幅に向上し、5E13 atoms/cm3以下のppt (parts pertril...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XPSによる単結晶Si表面のダメージ評価

高分解能測定と波形解析を利用してc-Siとa-Siの状態別定量が可能

活性元素のイオンを照射することで構造の損傷が生じ、アモルファス層が形成されることが知られています。 高分解能なXPSスペクトルではc(単結晶)-Siとa(アモルファス)-Siが異なったピーク形状で検出されることを利用して、この損傷由来のa-Siをc-Siと分離して定量評価した事例をご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析

GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能

一般的にSIMSでは含有量が％を超える主成分レベルの元素の定量性は低いとされていますが、一次イオンにCs+を用いたMCs+(M:着目元素）検出モードを用いることで、主成分元素の深さ方向の組成分布を求めることが可能です。 GaN系LED構造におけるAl,Ga,Inについて、深さ方向の組成評価を行った例を示します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】毛髪中における高級脂肪酸の分布評価

高級脂肪酸の分布を可視化

毛髪（ヒゲ）の断面についてTOF-SIMSを用いてイオンイメージ分析を行い、皮脂としても検出される高級脂肪酸の分布を調べました。 その結果、脂肪酸の種類により分布が異なることが分かりました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】毛髪中ヘアケア剤成分の分布評価 2

使用しているヘアケア剤の種類による浸透成分の違い、分布の違いを可視化

日常生活で使用しているヘアケア剤が異なる5人（A～E）について、毛髪断面をTOF-SIMSで分析しました。 その結果、ヘアケア剤の種類により検出される成分および毛髪中での分布が異なることが分かりました。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

エーテル・エステル類【カールフィッシャー水分測定装置　水分計】

不溶解でも十分に撹拌されていれば問題なく水分の測定可能！水分データのご…

当資料では、エーテル・エステル類の水分データをご紹介しております。 一般的なエーテル・エステル類は直接法で問題なく測定でき、終点も 安定して検出することができます。 発生液はアクアライトRSA（一般用・非塩素系）を一般に使用しますが、 炭素数の多いエーテル・エステル類はアクアライトRSAに不溶解になります。 不溶解でも十分に撹...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社HIRANUMA

アルコール類【カールフィッシャー水分測定装置　水分計】

カールフィッシャー電量滴定法を採用！ヨウ化物イオンの電気分解によって与…

当資料では、アルコール類の水分データをご紹介しております。 一般的なアルコール類は直接法で問題なく測定でき、終点も安定して 検出することが可能。 発生液はアクアライトRS-A（一般用・非塩素系）を一般に使用しますが、 炭素数の多いアルコール類はアクアライトRSAに不溶解になります。 不溶解でも十分に撹拌されてい...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社HIRANUMA

【資料】しるとくレポNo.37＃カスタム計測サービス

比較的容易にシステムを構築可能！微小電流検出システムの採用事例をご紹介…

★★しるとくレポ　知って得するお役立ち情報★★ 『カスタム計測サービス』とは、お客様の研究開発環境で求められる 機能を、オーダー・メイドの「カスタム計測システム」という形で ご提供するサービスです。 “でもオーダー・メイドなんて敷居が高そう…”なんて思っている方は いませんか？WTIでは、パートナー企業と協力し、既存設備と組み合わせる ことで比較的容易にシステムを構築することが可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

塩酸とフッ化水素酸の分別定量–電導度滴定【電位差自動滴定装置】

塩酸とフッ化水素酸の混合溶液中の各成分を電導度滴定で測定した例をご紹介…

製品および半導体表面処理液として使用されています。 当資料では、塩酸とフッ化水素酸の混合溶液中の各成分を電導度滴定で 測定した例をご紹介いたします。 電導度滴定により試料溶液の電導度を検出しながら、水酸化ナトリウム 標準液を滴定液に用いた中和滴定を行うことによって塩酸・フッ化水素酸の 順に逐次滴定します。 【掲載内容】 ■測定の概要 ■装置構成および試薬 ■測定手順 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社HIRANUMA

セメント中の塩化物イオンの定量【電位差自動滴定装置】

塩化物イオン標準液および過酸化水素水を加えて加熱処理！硝酸銀標準液を用…

物イオン（Cl¯）を定量する 例をご紹介します。 試料を硝酸で溶解し、塩化物イオン標準液および過酸化水素水を加えて 加熱処理したのち、硝酸銀標準液を用いた沈殿滴定によって測定。 終点検出用の電極として塩化物イオン電極を使用した電位差滴定によって 測定が行われます。 【掲載内容】 ■測定の概要 ■装置構成および試薬 ■測定手順 ■測定条件例および測定結果 ■摘要 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社HIRANUMA

【分析事例】軟X線発光分光によるGaNの評価

価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます

pDOS）を直接的に得られるため、材料の電子状態を評価する手法として幅広く用いられています。さらに本手法の特長として、1.バルクの情報が得られる 2.絶縁物に対しても帯電の影響を受けず評価可能 3.検出下限が低い（＜1atomic%）などが挙げられ、特に軽元素(B,C,N,O等)を含んだ材料の評価に有効です。本資料では測定例としてGaN基板のSXESスペクトルをご紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST