• ウェハ表面欠陥検査装置(画像式) 製品画像

    ウェハ表面欠陥検査装置(画像式)

    透明素材にも対応する高精度検査装置

    微分干渉顕微鏡を搭載した表面欠陥検査装置で 透明体材料にも適用しております。 全面検査による欠陥マップ出力や検出した欠陥の 顕微鏡観察が可能な装置です。 ■装置の特長 ・独自の画像処理技術による欠陥抽出・弁別機能 ・欠陥を観察しながら高精度なケガキが可能 ・他装置で検査したウェハに対し、欠陥座標を元に  観察、欠陥アルバムの作成が可能。 ・結晶欠陥の検出機能を開発中...【検出】 方   式: ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • ウェハ外観検査装置(画像式) 製品画像

    ウェハ外観検査装置(画像式)

    ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現

    ■以下のご要望・お困りごとにお応えする装置です! ・ウェハ(基板)の欠陥目視検査を自動化したい。 ・検査員ごとの合否判定ばらつき低減、防止したい。 ・検査データの保存、品質のトレースを行いたい。 ・自動で欠陥弁別したい。 ■装置の特長 ・目視可能な欠陥を自動で検出、抽出、弁別できます。 ・欠陥種類に合わせて最適化した光学系の提案が可能です。 ・手動機/自動搬送(カセットtoカセット)とも提案可能...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置 製品画像

    レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置

    レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

    高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査(約181秒/12inch) ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用し...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

  • ウェハ表面欠陥検査装置(レーザー式) 製品画像

    ウェハ表面欠陥検査装置(レーザー式)

    高出力レーザーで微小欠陥を検出!

    高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査(約91秒/6inch) ・PSL 50nm(オプション追加で40nm)相当の微小欠陥検出 ・欠陥の凹凸を弁別 ・SEM等での分析用にケガキ可能 ・レー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クボタ計装

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