• カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』 製品画像

    カット野菜用異物除去装置『UDW-Fseries』

    PR肉眼では見つけづらい同色の異物もピンポイントで検出・除去。機器選定のフ…

    『UDW-Fseries』は、カット野菜を特殊赤外線カメラにより上下両面から検査し、 検出した異物をイジェクターでピンポイントに除去する装置です。 肉眼では見つけづらい同色の異物が混入している場合にも、高精度に検出・除去可能。 変色した葉の検出もできる、色彩検出機能が付いたタイプもラインアップしています。 ★他にも、様々な検出方式に対応した食品用異物除去装置を提供しています。  ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社服部製作所

  • 【省人化に貢献】麺帯外観検査装置 既存ラインに後付け可能! 製品画像

    【省人化に貢献】麺帯外観検査装置 既存ラインに後付け可能!

    PRラインカメラ表裏面検査仕様!麺帯の表面異物を自動外観検査します

    『麺帯外観検査装置』は、麺帯の微妙な変化に照明の明るさを自動で 変化させ、検査基準のコントラストに合わせる事が出来る為、誤検知を 減らす事が可能な検査装置です。 NG箇所をスクロールマップで表示している為、NG箇所の発生場所が一目瞭然。 検査中にNG箇所の画像のみを表示することができます。 【特長】 ■粉塵対策(カメラ:BOX収納、照明:エアーブロー付き) ■NG箇所をスクロールマップで表示...

    • 麺帯制御盤.png
    • 検出例.png

    メーカー・取り扱い企業: 藤田グループ

  • 事例で解説!外観検査システムの課題と限界 製品画像

    事例で解説!外観検査システムの課題と限界

    汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行…

    ・外観検査の背景と課題 市場伸長が見込まれる画像処理システム市場の現状と、 外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、 纏めております。 ・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題 複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • リアルタイム管理!検査データ収集システム 製品画像

    リアルタイム管理!検査データ収集システム

    生産情報と連携させることで、過去の検査履歴データを容易に参照することが…

    査アプリケーションからリアル タイムで検査結果データを収集し管理できます。 画像処理装置の検査結果をリアルタイムに収集でき、データ収集中でも過去の 検査履歴を参照することが可能。 検査装置は、お客様のご要求仕様にマッチした検査装置をご提供致します。 手動検査装置や半自動検査装置からローダー/アンローダーを備えた自動検査 装置まで幅広いニーズに対応致しております。 【特長】...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 超音波探傷検査|非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出 製品画像

    超音波探傷検査|非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出

    エコー波形表示で縦横の断面状況を確認できる!非破壊で素材内部の微細な欠…

    像化して画像処理技術にて 欠陥を検出し、欠陥を検出する為の好適な条件(探触子・周波数・搬送系など) を試験により選定します。 長年培った画像処理、ハードウェアのノウハウで超音波探傷を自動検査装置 として展開。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー/アンローダーを 備えた自動検査装置としてもご提供致します。 【特長】 ■超音波波形データを画像化して画像処理技...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • パターン外観検査システム 製品画像

    パターン外観検査システム

    マスター登録方式を採用!16Kラインセンサカメラによる超高解像度画像処…

    検出します。 検査対象パターン輪郭を直線で囲み、マスタとなる形状を登録し、輪郭の内側・ 外側を個別に検査します。検出強度を個別に設定することが可能。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー/アンローダーを備えた 自動検査装置としてもご提供致します。 【特長】 ■マスター登録方式を採用 ■良品ワークを画像で取り込み、マスターに品種を登録 ■複数登録可能(学習機...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 外観検査|カラー&モノクロラインカメラ対応!原反検査システム 製品画像

    外観検査|カラー&モノクロラインカメラ対応!原反検査システム

    カラーラインカメラ&モノクロラインカメラともに対応!シート、フィルム、…

    『原反検査システム』は、途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に 発生する欠陥(異物、キズ、スジ、ピンホール等)を検出します。 運転動作中に検出された欠陥画像をリアルタイムに表示。 画像データは検出位置情報と共に記録されており、集計ソフト(オプション) を利用して、運転終了後に検出結果を再確認できます。 また、運転動作中に検出された欠陥の位置を、カメラの位置を基点に一定距離 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 成分の違いを簡単識別!近赤外画像 外観検査システム 製品画像

    成分の違いを簡単識別!近赤外画像 外観検査システム

    容器内部を非破壊・非接触・非浸水で検査可能!人の目で見えないものが可視…

    『近赤外画像 外観検査システム』は、低密度なパッケージを透過するので 中身の画像検査が行えます。 撮像対象物や検査用途に合った好適なカメラ・照明等を選定。検査装置・ 検査ソフトと併せてご提供します。 成分の違いで見え方が変わるため、簡単に識別できるようになります。 【特長】 ■低密度なパッケージを透過 ■中身の画像検査が行える ■容器内...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 事例集プレゼント!画像検査システム『URCP』 製品画像

    事例集プレゼント!画像検査システム『URCP』

    ニーズや対象に応じた画像検査システムを構築。ソフト・ハード含め一貫対応…

    『URCP』は、様々な業種・製品の検査で導入実績があるソフトウェアを パッケージングした画像処理システムの構築ソリューションです。 ニーズや検査対象に応じて、組み合わせやカスタマイズが可能。 サンプル評価による光学機器の選定から、 搬送装置や画像検査システムの導入まで一貫して対応できます。 【ソリューション事例】 ■パターン外観検査システム 対象:電子部品(セラミック基板、ア...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 高さ方向の不良検出可能!3Dカメラ高さ計測システム 製品画像

    高さ方向の不良検出可能!3Dカメラ高さ計測システム

    高さ以外にも、反射光・拡散光などのデータを取得!対象の表面状態の検査も…

    方向」の不良が検出できます。 光切断法による3次元スキャンにより、高速にプロファイルを取り込むことが でき、検査精度によりレーザー変位計も対応。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー/アンローダーを 備えた自動検査装置としてもご提供致します。 【特長】 ■通常の画像検査では検出できない「高さ方向」の不良が検出可能 ■光切断法による3次元スキャンにより、高...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

  • 良否判定機能あり!UISの寸法測定システム 製品画像

    良否判定機能あり!UISの寸法測定システム

    各種対象の「外形・長さ・ピッチ」などの計測に合わせ、高精度な良否判定機…

    らします。 計測イメージ・原理として、まず画像中の物体の境界を検出。検出したエッジ から、各種形状へ近似処理を行い、様々な幾何学計算から寸法を測定。 お客様のニーズにより、卓上型手動検査装置やローダー/アンローダーを 備えた自動検査装置としてもご提供致します。 【特長】 ■工業製品の寸法測定作業を簡略化 ■カメラで写した映像を解析し、物体の寸法を計測 ■測定手法、測定ポ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社宇部情報システム

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