• 無料プレゼント!『マグネットバー磁力測定のコツ直伝』 製品画像

    無料プレゼント!『マグネットバー磁力測定のコツ直伝』

    PRマグネットフィルターの定期的な磁力測定できていますか?測定のコツ・注意…

    工場ライン内で使用されるマグネットフィルター。 品質管理のために、定期的に磁力測定を行う必要があります。 これから機器(ガウスメーター、テスラメーター)を購入して測定、 管理しなければならない方、既に測定、管理しているけれど、社内で統一した 測定方法を確立したい方などに向けて、測定方法のコツを解説した資料です。 【注目製品】 『斜型手動清掃式ダイアコナーDCS』 ・粉や顆粒原料などの効率の良い...

    メーカー・取り扱い企業: ダイカ株式会社

  • マルチモードプレートリーダー『Varioskan ALF』 製品画像

    マルチモードプレートリーダー『Varioskan ALF』

    PR1台で吸光・上方蛍光・発光測定可能なマルチモードマイクロプレートリーダ…

    Thermo Scientific Varioskan ALFマルチモードマイクロプレートリーダーは、吸光測定用光学系はキセノンフラッシュランプとモノクロメーターをベースにしており、200 nmから1,000 nmの範囲で連続波長選択を可能にしています。波長範囲が広いため、核酸やタンパク質の定量、細菌増殖曲線、ELISA、および細胞生存率など、多くの一般的なアッセイが可能です。 蛍光および発光測...

    メーカー・取り扱い企業: サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社/Thermo Fisher Scientific K.K.

  • 放射性物質検査 製品画像

    放射性物質検査

    商品のラベル表示に使用される栄養成分を分析いたします。

    日本食品機能分析研究所では、放射性物質の含有量を検査いたします。 商品のラベル表示に使用される栄養成分を分析。 実際に製品を分析することで、理論値ではなく実際の測定に沿った 適切な表示が可能となり、消費者に適正な情報を提供することができます。 「放射性物質を検査したいがどのようにやったらいいのか?」 「検体の送り方はどうすればいいのか?」とお困りの...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本食品機能分析研究所 本社

  • 砒素イオン注入深さ分析 製品画像

    砒素イオン注入深さ分析

    SIMSによる、シリコンへ砒素をイオン注入した分析結果を紹介。

    6O など)が干渉するため、質量分解能が 3190 必要です。 Q ポール型 SIMS では質量分解能が 200 程度しかなく、質量分離が困難です。 しかしシリコンと砒素の複合分子イオンを測定することによって検出下限を 2×1015 [atoms/cm3]に下げることが出来ました。 【注入条件】 ■エネルギー :700 [keV] ■ドーズ量 :1×1015 [atoms/...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社イオンテクノセンター

  • 【分析事例】シリコン(Si)酸化膜の状態評価 製品画像

    【分析事例】シリコン(Si)酸化膜の状態評価

    TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能

    ーが可能、(5)相対的なサンプル間の比較(膜厚・組成)が可能、(6)イメージ分析により表面数nm程度について状態の分布を視覚的に捕らえた評価が可能です。 自然酸化膜と酸化膜の結果をまとめます。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:LSI・メモリ 分析目的:化学結合状態評価・組成分布評価・腐食層の膜厚 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】錠剤タイプ頭痛薬の組成分布評価 製品画像

    【分析事例】錠剤タイプ頭痛薬の組成分布評価

    新品と過酷試験後の錠剤断面における成分を可視化

    域に分かれていることがわかりました。また、過酷試験として錠剤を4週間に渡り温度50℃、湿度75%の環境に置くことで、成分が変化した様子を評価しました。製剤処方研究・安定性評価の可視化に有効です。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:バイオテクノロジ・医薬品 分析目的:組成評価・同定・組成分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】SiC基板の品質評価 製品画像

    【分析事例】SiC基板の品質評価

    結晶方位・面内欠陥分布・表面凹凸・不純物を評価

    。 デバイスを製造する上で必要になるSiC基板の品質評価が課題になっています。SiC基板を結晶方位、面内欠陥分布、表面凹凸および不純物についての評価し、数値化・可視化する方法を提案いたします。 測定法:XRD・AFM・PL・SIMS 製品分野:パワーデバイス・照明 分析目的:微量濃度評価・構造評価・形状評価・故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】X線CTによるポリウレタン内部の空隙率評価 製品画像

    【分析事例】X線CTによるポリウレタン内部の空隙率評価

    X線CTによる多孔質樹脂材料の解析事例

    いて、X線CTを用いて内部の空隙の形状を観察しました。 その結果、内部に多数存在する個々の空隙の形状を確認することができました。さらに、得られたデータを用いて空隙率の定量的な評価を行いました。 測定法:X線CT法 製品分野:日用品・樹脂材料 分析目的:形状評価・構造評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】揮発性有機化合物(VOC)P&Tによる微量成分の検出 製品画像

    【分析事例】揮発性有機化合物(VOC)P&Tによる微量成分の検出

    GC/MS:ガスクロマトグラフィー質量分析法

    用され、洗浄用水等に極微量で含まれる可能性があります。水中のVOCは、極微量であっても臭気の原因になることや健康被害を引き起こすことが懸念されることから、環境基準値や排水基準値が定められ、低濃度まで測定可能な手法が必要とされています。本事例では、P&T(パージ&トラップ)で濃縮した成分をGC/MSに導入することによって、水中の微量なVOC成分(サブppbレベル)を検出する事例を示します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】CIGS薄膜の組成分布分析 製品画像

    【分析事例】CIGS薄膜の組成分布分析

    薄膜の組成定量、面内分布、深さ方向分布の評価が可能

    っています。 成膜したCIGS薄膜の組成について、ICP-MSで高精度に定量した事例、SIMSで深さ方向に濃度分布を評価した事例、およびXRFにて基板面内の濃度分布を評価した事例を紹介します。 測定法:SIMS・ICP-MS・XRF・エッチング 製品分野:太陽電池 分析目的:組成評価・同定・組成分布評価・膜厚評価・製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】化学分解-GC/MS法によるポリウレタンの分析 製品画像

    【分析事例】化学分解-GC/MS法によるポリウレタンの分析

    縮合系高分子の詳細な構造解析が可能

    報が十分に得られない場合があります。このような時、メタノールを用いた化学分解を行うことで、より詳細な構造情報が得られるようになります。 本事例ではポリウレタン製軽石をメタノールで分解し、GC/MS測定を行った結果を紹介します。ジフェニルメタンジイソシアネート、フタル酸ジメチル、トリメチロールプロパン、プロピレングリコール類が検出され、本製品はこれらの素材から構成されるポリエステルウレタンと推定さ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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    【分析事例】リチウムイオン二次電池 Si負極の評価

    充電前後の電極の様子およびLiの存在・分布を評価可能

    れています。 充電前後のSi負極に関して雰囲気制御環境下で解体、観察をしました。更に、FIBマイクロサンプリング法により断面観察用サンプルを作成し、Csコレクタ付きSTEM装置で形状観察とEELS測定を行い、Si電極の様子と電極中のLi分布を評価しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AES分析による積層試料の割断面評価 製品画像

    【分析事例】AES分析による積層試料の割断面評価

    割断サンプルで50nm薄膜を可視化

    AES分析は最表面から数nm深さまでの組成情報を得る手法ですが、試料の断面からAES測定を行って元素分布像を得ることで、層構造を明瞭に評価することが可能です。積層構造の評価やトレンチやホールの内壁の元素分析に加え、機械加工やイオンビーム加工を併用することで、薄い合金層や元素の拡散・偏析...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ウォーターマーク原因調査 製品画像

    【分析事例】ウォーターマーク原因調査

    TOF-SIMSを用いた最表面の汚染源の特定

    ます。異常箇所から検出されたイオン種から由来成分を推定することで、異常がどのプロセスで発生したかを調査することができます。 ウェハや製品上に異常箇所(変色・付着)が見つかったとき、TOF-SIMS測定を行うことで、洗浄・乾燥に起因するウォーターマークか、母材の変質物か、別工程での付着物かを切り分けることができ、不良原因追求に有効です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ノズル表面・内壁の組成評価 製品画像

    【分析事例】ノズル表面・内壁の組成評価

    凹凸サンプルの組成分布評価が可能です

    イメージ分析が可能なことから、分布評価などに有効な手段です。 本資料では、ノズルの内壁を分析した事例を示します。 ノズル表面と内壁の分布が確認され、各部位でのピークの有無の確認ができました。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:製造装置・部品・日用品 分析目的:組成分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】エポキシ樹脂の構造解析 製品画像

    【分析事例】エポキシ樹脂の構造解析

    熱分解GC/MS法によるLED封止材の構造解析

    料、建築材料など種々の用途に用いられています。しかし溶剤溶解性が無いことから、構造決定のための分析手段は限られてしまいます。本事例ではLEDの封止材として使用されているエポキシ樹脂の熱分解GC/MS測定を行った事例を紹介します。主剤および硬化剤の構造を反映した熱分解生成物が得られ、本樹脂はビスフェノールA/酸無水物型のエポキシ樹脂と推定されました。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析 製品画像

    【分析事例】TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析

    サブμmオーダーの異物、微小領域の定性・イメージ分析が可能

    析が同時に可能なことから、異物や微小領域の評価に有効です。 本資料は、サブμmオーダーの微小領域の分析例をまとめます。 層構造の試料上にFIBでスパッタ加工を行ったサンプルを、TOF-SIMSで測定をしました。サブμmオーダーの微小領域を評価をすることが出来ています。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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